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Axio Imager で定評のある C-DIC(円偏光利用微分干渉)だけではなく、Axio Scope では透過光サンプルのために PlasDIC を実現しました。
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| 透過光 明視野 | 透過光 偏光 |
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| DIC(通常の微分干渉) | PlasDIC |
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Axio Scope は透過光光路を新しく設計しなおし、飛躍的に向上したコントラストが特徴です。従来より定評のあった消光比の高い偏光モジュールの性能をさらに引き出すことに成功しています。素晴らしい発色や正確な測定に最適です。
従来ガラス基板上でしか実現できなかった透過光DICを樹脂基板上でも実現できるようにした技術が PlasDIC です。サンプル評価のために特別なプレパレーションの工程を省くことが可能になりました。
方向性を選ばない反射DICのC-DICとあわせて、Axio Scope はサンプル観察の可能性を広げます。 |
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反射光観察
• 明視野
• 暗視野
• 偏光
• DIC（微分干渉）
• C-DIC（円偏光利用微分干渉）
• 落射蛍光 | 透過光観察
• 明視野
• 偏光
• 暗視野
• DIC（微分干渉）
• PlasDIC
• 位相差 |
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