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| 半導体検査機器 |
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- Faster and more reliable, more powerful, but more economical -
これらは、半導体産業がある限り、その製造・検査装置に常に求められる要求ではないでしょうか。私達の光学システムは、40年以上にもわたり、半導体チップの製造のコア・プロセスを担い、世界の半導体産業に高性能チップ・デザインと低コスト化に不可欠なスループット向上の道を拓きました。
カールツァイスSMT AGは、世界の半導体産業を支える幅広い製品とソリューションを提供しています。主な製品は、ASMLの露光機用のオプティックス、ExitechのMETのオプティクスも同様にカールツァイスのものです。
さらに、私達は最先端のフォトマスク評価システム、マスクリペア・システムそして不良解析システムを提供しています。私達の製品ポートフォリオはAerial Image MeasurementSystem： AIMS、電子ビームによるマスクリペア・システム： MeRiT MGそして不良解析システムです。 | |