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動的なビジュアライゼーション

ZEISS PiWeb Module Monitor

Monitorはパワフルで使い易く設計されています。製品固有で汎用的なレポートはプロセスデータへの時間と場所を問わないアクセスを可能にします。動的なレポートによって製造プロセスにおける関連データの分析が可能です。データのグループ化、分散分析、詳細分析などのインタラクティブな機能は、測定データを簡単に貴重な情報に変換します。

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お問い合わせ先

Monitor

  • リアルタイムで品質データやプロセスデータをモニタリング
  • すべての測定データを簡単にナビゲート(データ分析のための詳細ページ、クラスター分析のための分割やグループ化)
  • すべての重要な統計値と計算に容易にアクセス可能
  • インタラクティブなCADビジュアライゼーション
  • Gage R&R分析やアセンブリ解析などのような一般的な分析方法に対応

ダイナミックでインタラクティブ

MonitorはZEISS PiWeb Serverから最新の測定値を表示します。レポートに含まれているすべてのチャートや分析ツールはすぐに新しいデータを表示します。より深い測定分析のために、Monitorは最も重要なすべての統計値や統計分析へのアクセスをワンクリックで実現します。リンクされたレポートやレポートページを使って大量のレポートを簡単にナビゲートすることができます。

詳細ページ

詳細ページはデータのばらつきや工程変動の直接的な検査を可能にします。Monitorは最も一般的な詳細ページを備えているので、カスタムページの作成と追加が容易です。

統計

詳細な分析のために、最小値、最大値、平均値、cp/cpk値、標準偏差といった最も一般的な統計パラメータへ簡単にアクセスできます。これらのパラメータをレポートページに直接表示することも、プロットのいずれかをクリックしてアクセスすることも可能です。

Gage R&R

測定値を取得するプロセスは製造プロセスと同様に変動の影響を受けます。

ZEISS PiWebはGage R&Rタイプ1, 2, 3を使用して、測定プロセスの精度評価を行います。プロットだけでなく、必要なすべての統計値(平均値&範囲、またはANOVA)は、ZEISS PiWebによる測定システム分析を容易にします。また、Monitorのインタラクティブな手動測定入力は、必要なすべてのデータの収集を容易にします。

CAD

Monitorは測定結果をCADモデルに直接表示することができます。CADモデルは常にインタラクティブな状態にあります。そのため、CADモデルは最終レポートで回転、拡大縮小、移動させることができます。

ZEISS PiWebはまた、G3D形式のデータのような光学測定機器から得られた点群データの評価もサポートします。

インタラクティブな手動測定入力

今日でも、少なくない量の測定データが手動測定機器によって得られています。Monitorは測定値をレポートに直接入力することにより、このプロセスを容易にします。入力マスクは誤ったデータ入力を削減し、オペレータは合否判定に関するグラフィカルなフィードバックを得ます。

 

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