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ZEISS PiWeb reporting plus

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ZEISS PiWeb reporting plus

ZEISS PiWebは測定データの表示と解析を、これまでよりも大幅に簡単にするために開発されました。パフォーマンス、フレキシビリティ、使いやすさにおいて、同クラスではベストなシステムです。
強力なチャート、統計分析、CAD表示機能は測定データを可視化し、製造プロセスのモニタリングを最適化します。
数多くのチャート、プロット、テーブルが用意されており、データをさまざまな形で視覚的に表現することができます。統合されたテンプレートには簡単にアクセスすることができ、ユーザの要求に応じたレポートのベースとなります。CADモデル表示用の統合されたオプションにより、測定データの3D表示が可能です。

特徴

  • ZEISS製座標測定機のデフォルトプリントアウトまたはカスタムプリントアウトのための豊富な機能
  • アプリケーション固有の統合データベース
  • ゲージR&Rタイプ1およびタイプ2テストによる測定システムの分析
  • 一連の測定を統計的に評価することが可能
 

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