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ZEISS CONTURA

コンパクトクラスの基準機

CONTURAはZEISSがお届けする、柔軟性と信頼性を備えた妥協のない品質保証のための広範なプラットフォームです。最新世代は精度が高まり、測定範囲が広がったことに加え、多様な光学式センサをラインナップしています。卓越したスキャニング・テクノロジーに基づくZEISS CALYPSO測定ソフトウェアを使用しています。全体の機構が精細に調整されたZEISSCONTURAはこのクラスの標準の地位を確固たるものにしています。

CONTURA G2 座標測定機

ZEISS CONTURA

最大許容長さ測定誤差 E0

1.5 + L/350 μmから

測定範囲

  X Y
Z
7/7/6 700 700 600
7/10/6 700 1000 600
10/12/6 1000 1200 600
10/16/6 1000 1600 600
9/12/8 900 1200 800
9/16/8 900 1600 800
12/18/10 1200 1800 1000
12/24/10 1200 2400 1000

各種センサ

ZEISS CONTURAには、固定式パッシブセンサ、フレキシブルRDS回転式プローブホルダまたはアクティブスキャニングプローブが搭載可能です。どのセンサでもスキャニングが可能です。また、アクティブセンサにはZEISSのナビゲータ機能が標準で装備されているので、スムーズな測定が可能です。

高い耐環境性を誇りながらも精密

ZEISS CONTURAには、構成に応じて、セラミックまたはCARATガイドウェイが使用されており、高い剛性、低い熱膨張率、最小限の移動加重を実現しています。さらに、3軸すべてに搭載されたエアベアリングで、移動速度と加速度が速くても一貫した安定性を保証します。ZEISS CONTURAのフローティング・ガラスセラミックスケールは、実質的に熱膨張を起こさないので、温度センサや数学的補正を必要としません。また汚染やその他の影響からの保護装置も付いているため製造現場に最適です。

コンピュータによる精度補正(CAA)

ブリッジ部は動的な力の影響を受けます。ひいては、特にスキャニング中の精度に影響します。ZEISS CONTURAは、このような慣性効果に対する補正を計算します。そして、必要な精度は損なわずに、測定速度を速めることを可能にしています。

使いやすい操作系

システムは使いやすい操作盤を介して操作され、コンピュータを必要としません。漸進的なジョイスティックはすべての軸の動きを容易かつ正確に制御することを可能にします。CNCモードでは、速度制御は可変になります。

オプション

  • より大きな温度範囲(18~26℃)で動作可能なHTG(High Temperature Gradient)。温度範囲が大きくても測定の不確かさは変わりません。ワーク/測定機用の温度センサを搭載。対応測定範囲x= 700/1,000 mm
  • 再校正不要で最高の再現性を実現するセンサラック
  • アクティブプローブ使用時の高速スタイラスシステム交換
  • 圧縮空気の使用量を60%削減するZEISSAirSaver

各種センサ

Direkt
Direktセンサモデルは、傾斜要素がなく直交方向に幾何形状のあるある小さな部品の測定に理想的です。ZEISS CONTURA direktはZEISS VAST XXTスキャニングセンサを搭載。製造および単一処理工程での先進的な測定に使用できます。ZEISSのスキャニング技術を初めて導入する場合に適した製品です。また、XDTシングル点センサを、必要に応じてZEISSのVAST XXTにレトロフィットすることも可能です。ZEISS CONTURA direktは、10/16/6までのサイズを用意しています。
RDS
ZEISSのVAST XXTセンサと組み合わせることで、フレキシブルなRDS回転式プローブホルダは、あらゆる角度位置にある要素をスキャニングを可能にします。2.5°ステップで合計20,736通りの角度位置を実現するRDSは、実質的にどのような空間角度にも到達可能です。これは特に、固有のスタイラス設定を作成しなければならないような複雑な部品で力を発揮します。校正回数は、校正ルーチンが最適化されているため最小限ですみます。RDSはまた、ZEISS CONTURAでのZEISS製光学式センサの使用を可能にします。
Aktiv
ZEISS CONTURA aktivは、1回のスムーズな実行で高速スキャニングが可能なナビゲータ機能を標準で搭載しています。ZEISSのVAST XTR goldまたはVAST XT goldアクティブスキャニングプローブを使用することもできます。これらは、高いスループット率の奥行きのある、オフセットされている要素の測定に特に適しています。どちらのセンサとも同じアダプタプレート・レセプタクルを使用します。既存の測定プログラムは変換することにより、使用可能です。高速スタイラスシステム交換システムもオプションで用意されています。

 

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