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ZEISS PiWeb reporting

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ZEISS PiWeb reporting

ZEISS PiWebは測定データの表示と解析を、これまでよりも大幅に簡単にするために開発されました。パフォーマンス、フレキシビリティ、使いやすさにおいて、同クラスではベストなシステムです。
強力なチャートは測定データを可視化し、製造プロセスのモニタリングを最適化します。
数多くのチャート、プロット、テーブルが用意されており、データをさまざまな形で視覚的に表現することができます。統合されたテンプレートには簡単にアクセスすることができ、ユーザの要求に応じたレポートのベースとなります。CADモデル表示用の統合されたオプションにより、測定データの3D表示が可能です。

特徴

  • ZEISS製座標測定機のデフォルトプリントアウトまたはカスタムプリントアウト
  • のための豊富な機能
  • アプリケーション固有の統合データベース
  • 測定プランあたり最大10測定まで保存可能です。