適用範囲

  • 品質管理/検査
  • 測定データとCADデータとの設計値/実測値比較
  • ツール製造と金型製作
  • トポグラフィ測定、表面測定技術
  • ツールの再構築
  • スキャンデータからの加工用経路の作成
  • ツール作成後の実測値の取得
  • 設計
  • CAD処理、ドキュメント化のための設計モデルのスキャニング
  • ラピッドプロトタイピング
  • リバースエンジニアリング
  • 美術品や考古学的遺物等のドキュメント化

(日本では本サービスは実施しておりません)


光学式測定によるメリットは、高い点密度と測定速度です。非常に短時間で、多くの情報を取得できます。非接触およびトポグラフィ測定用にホワイトライトセンサを装備したマルチセンサ測定機
ZEISSO-INSPECTや3Dスキャナを使用します。


製品の表面全体をデジタル化して分析したいとお考えですか?当社の高精度3Dスキャナは、お客様のニーズに対するソリューションです。3Dスキャナはほんの数秒以内に非常に大量の非常に正確なデータを記録します。CNC制御のロータリーテーブルにより、効果的な測定とデジタル化が可能です。

非常に高い点密度のおかげで、短時間で製品を総合的に評価できます。設計値/実測値比較、再校正、ツール修正データ等を簡易かつ高い信頼性で生成できます。

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 ZEISS Metrology Care Flyer Essential DE

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 ZEISS Metrology Care Flyer Essential EN

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 ZEISS Metrology Care Flyer Standard DE

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ZEISS Smart Services Starter Kit  - Promotion Flyer FR

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