さまざまな状況でシステムコンセプトを活用可能な表面検査システム

ZEISS ABIS II

Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types

モジュラー式センサによる客観的で高速な測定

ABIS IIセンサを使用して、さまざまな種類の欠陥を検出できます。へこみ、隆起、ひけ、波むら、くびれ、ひび割れなどの早期認識と分類を行えることが特徴です。このシステムは、板金部品やホワイトボディの製造に最適な品質管理に適した測定機です。特に、高い精度と極めて短いサイクルタイムが利点です。ABIS IIのモジュラー式センサ技術により非常に高い柔軟性を備えています。コントラストセンサをオプションで搭載することで、糊残り、キズ、汚れなどの欠陥を検出することも可能です。

工程サイクル全体にわたる表面品質の連続分析

自動車業界では、多岐にわたり工程サイクル全体に至る表面品質分析を行っております。単一部品、組み立ておよび電着塗装といった各工程の後、個々の部品は同じ検査アプリケーションによって再度検査され、トップコートの品質に影響を与える可能性のある表面の欠陥を識別します。発生した欠陥は各工程の後にレポート化されます。生産における履歴ににより、表面の欠陥に関連する問題が各工程の後に増加または減少する可能性があることが明らかになります。

Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types
Optical surface inspection sensor ZEISS ABIS II detects a wide range of defect types

工程全体の品質分析に基づいて、必要な部品の手直しが各工程にて正確に行われます。これにより、仕上げ工程での効率が向上し、大幅なコスト削減につながります。工程サイクル全体に渡る表面欠陥の発生に加えて、製造期間内に発生した品質の変化は、品質管理に関する重要な情報をユーザーに提供します。例えば、検査値が悪化したとき、欠陥がある部品の是正措置(プレスのパラメータや工具表面に関するものなど)を早期に行う事ができます。

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