JSM2026

日本顕微鏡学会

第82回学術講演会
学術講演会テーマ「マルチディシプリナリー研究のためのマルチスケール・マルチモーダル顕微鏡学」が求めるのは、個々の装置性能だけでなく、スケールと手法を「つなぐ力」です。

本年のテーマに呼応して、ZEISSは光学顕微鏡、電子顕微鏡、X線顕微鏡、相関顕微鏡プラットフォーム、解析ソフトウェアを、ひとつのシームレスなワークフローとしてご紹介します。多様な分野の研究者が「同じ試料を、異なるスケールとモダリティで一貫して観察・解析する」ための具体的なアプローチを、ブース展示とセミナーで詳しくご覧ください

開催概要

日本顕微鏡学会 第82回学術講演会

会期

2026年5月25日(月)~27日(水)

会場

仙台国際センター 展示棟 MAP

参加登録

学術講演会公式サイトをご確認ください

ZEISS 展示ブース

ZEISS 展示ブース

光学・電子・X線顕微鏡による解析ソリューション

全日程 / 企業展示会場

展示ブースでは、マテリアルサイエンス分野はもちろん、ライフサイエンス分野における光学顕微鏡、電子顕微鏡、X線顕微鏡の各活用事例、さらに、産業分野におけるX線CT事例もご紹介いたします。

2026年3月30日に発表された新製品 ZEISS Crossbeam 750 FIB-SEM は、FIB(集束イオンビーム)加工を中断することなく、リアルタイムで極めて鮮明な観察を実現、TEMラメラ作製・3Dトモグラフィー・ナノファブリケーションにおいて高精度と明瞭性を追求するよう設計されており、高度な半導体や材料研究ワークフローの要求に応えます。ぜひご確認ください。

また、ZEISSは、2026年に創立180周年を迎えました。光学の原点からマルチスケール・マルチモーダル顕微鏡まで、常に研究現場とともに進化し、見えなかった世界を「観える科学」へと変えてきた ZEISS の歴史を壁面年表にてご紹介いたします。

 

<電子顕微鏡ソリューション>

・【新製品】 ZEISS Crossbeam 750 FIB-SEM および、Crossbeamシリーズ
・ZEISS Sigma シリーズ / GeminiSEM シリーズ
・ZEISS Gemini NanoVP 構成(低真空下でも Inlens SE、およびBSE検出器を使用可能にし、非導電性サンプルの高分解能表面情報を取得)

 

<インダストリアルソリューション>

・サブミクロンレベルの超高解像度を誇る VersaXRM 730
・非破壊での内部形状検査を実現するX線CT METROTOM シリーズ

 

<ライフサイエンスソリューション>

・生体を一瞬で3D高速イメージング ZEISS LSM Lightfield 4D
・細胞の微細構造を3Dで捉える
ZEISS Volutome
・ライフサイエンス向け電子顕微鏡ソリューション
・ライフサイエンス向けX線顕微鏡ソリューション

ZEISS プレゼンテーションのご案内

ZEISS プレゼンテーションスケジュールPDF を下記よりダウンロードいただけます

1日目:講演会A

X線CTを用いたネジバナ(Spiranthes sinensis)の らせん構造の花序形成メカニズムの解析

5月25日(月) 10:35 - 10:50 / C会場 1C_B-1_06
佐藤 朗、井阪 琢真

1日目:講演会B

低真空SEMにおけるInlensSE検出器を 使用したコントラスト観察

5月25日(月) 10:45 - 11:00 / B会場 1B_IBM-7_06
小田 武秀

1日目:ワークショップ

ライブイメージングの最前線:
空間・時間分解能を両立する最新技術

5月25日(月)14:30 - 15:00 / G会場
林 理恵、市川 明彦

1日目:ワークショップ

顕微鏡をつなぎ、広げる
ー相関顕微鏡法によるマルチモーダル解析事例ー

5月25日(月) 15:00 - 15:30 / G会場
佐藤 朗、林 理恵

1日目:ワークショップ

エネルギー革命を支える ZEISSのバッテリー解析技術:
X線顕微鏡VersaXRMの可能性

5月25日(月) 15:35 - 16:05 / G会場
坂内 智津子、大内 一弥

1日目:ワークショップ

次世代電子部品の品質課題を解決する ZEISS X線顕微鏡:
活用事例のご紹介

5月25日(月) 16:05 - 16:35 / G会場
坂内 智津子、神森 ほなみ

2日目:ランチョンセミナー

ZEISS最新FIB-SEMが切り拓く
マルチモーダル解析プラットフォーム

5月26日(火) 12:00 - 12:50 / D会場 LS-11
佐藤 朗、小幡 卓眞、小田 武秀

*ランチボックス引換券は、当日8時より配布所にて配布いたします

2日目:ポスターセッション

高スループットSEM自動撮像とAI解析による
NMC正極活物質の一次粒子径統計評価

5月26日(火) 16:00 - 17:30 / ポスター会場 P_046
小田 武秀、風間 大和

3日目:ランチョンセミナー

ZEISS GeminiSEMのイメージング機能を最大限に活用するための最先端ソリューション

5月27日(水) 12:00 - 12:50 / A会場 LS-15
西村 聡文、孫 カイイン、ファン ジョウ

*ランチボックス引換券は、当日8時より配布所にて配布いたします

ZEISS 顕微鏡ソリューション

ZEISS GeminiSEM

極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡(FE-SEM)

ZEISS Sigma

汎用フィールドエミッション走査型電子顕微鏡(FE-SEM)

ZEISS Crossbeam

集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM)

ZEISS VersaXRM

3D X線顕微鏡(XRM)