ユーザーグループミーティング

ZEISS テクニカルカンファレンス 2026

最先端研究イノベーターによるZEISS顕微鏡技術のご紹介

2026年 6月 24日

最先端研究に取り組むイノベーターの皆様に、VersaXRM、GeminiSEM、Crossbeamを活用した最新事例をご紹介いただきます。ZEISS製品をご利用中の方はもちろん、これまでご利用いただいたことのない方にとっても、ご自身の研究のヒントとなる貴重なお話をお聴きいただける機会です。また、3/31に世界同時発表された新製品Crossbeam 750のご紹介も予定しております。ぜひご参加ください。

ZEISS テクニカルカンファレンス2026

最先端研究イノベーターによるZEISS顕微鏡技術のご紹介

開催概要

開催日時	2025年6月24日（水） 13:00 - 18:00（12:00受付開始）/ 懇親会 18:00 - 19:30 _{ご希望の方には受付開始 12:00 よりお弁当をお渡ししますので、申込フォームにて要否をお願いいたしますスケジュールは予定です}
開催会場	TKPガーデンシティPREMIUM京橋 MAP
アクセス	東京メトロ銀座線京橋駅 8番出口直結都営浅草線宝町(東京都)駅 A5 / A6出口徒歩3分 JR各線東京駅八重洲南口徒歩5分東京メトロ丸ノ内線東京駅八重洲南口徒歩5分東京メトロ有楽町線銀座一丁目駅 7番出口徒歩5分
対象	先端材料・デバイス開発に携わる研究者・技術者の皆様を対象としています大学・公的研究機関、企業の研究開発部門において、・電子顕微鏡（SEM,FIB-SEM）・X線顕微鏡（XRM）を用いた材料評価・構造解析・不良解析・プロセス開発に関わる方に特におすすめです
定員・締切	100名　（先着申し込み順） _{*定員になり次第申込受付を終了いたします}
注意事項	以下の点につきまして、あらかじめご承知おきください同業他社の方のお申込みはご遠慮ください本セミナーの録音・撮影はご遠慮いただきます。また、録画等の公開は予定しておりませんお問い合わせ、ご質問はこちらまでお願いします

プログラム

13:00 - 13:10

開会挨拶

13:10 - 13:40

XXXXXXXX

名古屋大学工学研究科
材料デザイン工学専攻
准教授　徳永智春先生

XXXXXX

13:40 - 14:10

SEMによる表面原子層の観察

東京理科大学　
総合研究院ナノカーボン研究部門
客員教授本間芳和先生

_{1990年頃よりNTT物性科学研究所にて超高真空SEMを用いた半導体表面の結晶成長過程・ナノ構造形成過程のその場観察に従事

2004年に東京理科大学理学部第一部物理学科教授に就任後、ナノ構造物理学の研究を推進。その一環として、SEM（LEO1530VP）によるカーボンナノチューブやグラフェン形成のその場観察を実現}

SEMでは、二次電子放出が様々な要因の影響を受けるため、定量的理解は困難であるものの、多彩な情報を反映した像を得ることができます。筆者は原子レベルで平坦な物質の表面において、結晶構造や組成に起因する二次電子コントラストを研究してきました。本講演では、SEMの表面構造敏感性に焦点を当て、原子ステップやカーボンナノチューブも含む様々な表面原子層の観察例を紹介します。

14:10 - 14:35

xx ZEISS SEM xx

カールツァイス株式会社
プロダクトアンドアプリケーションセールス SEM スペシャリスト
風間大和

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14:55 - 15:25

SEM, FIB-SEMを用いた永久磁石の磁区構造観察
～ 2Dから3Dへの挑戦～

JFEテクノリサーチ株式会社
分析・解析技術 Division ナノ解析センター
専門技監名越正泰氏

_{1993 博士（理学）東北大学

1986 北海道大学大学院工学研究科応用物理専攻修士課程修了、同年日本鋼管（株）（現 JFEスチール（株））入社

表面分析、放射光、電子顕微鏡を用いた解析技術の開発、およびこれらを駆使した表面処理鋼板などの鉄鋼材料開発に従事

2017 JFEテクノリサーチ株式会社入社　各種材料の評価および評価技術の開発に従事　現在に至る。}

高性能磁石の開発では、保磁力などの特性に関わる磁区構造の観察が重要です。本講演では、走査電子顕微鏡（SEM）による磁区コントラスト観察手法の概要と特徴を説明します。さらに、集束イオンビーム加工（FIB）とSEMを組み合わせたFIB-SEM複合機を用いて、Nd-Fe-B焼結磁石（消磁状態）の磁区構造を三次元的に可視化することを試みた結果を紹介します。

15:25 - 15:50

xx ZEISS FIB-SEM xx

カールツァイス株式会社
プロダクトアンドアプリケーションセールス FIB-SEM スペシャリスト
XXXX XXXX

XXXXXXXXX

15:50 - 16:20

XXXXXXXXXXXXX

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
分析機器事業部
XXXXXXX

XXXXXXXX

16:40 - 17:10

高分解能X線顕微鏡による材料分析
―文科省ARIM事業における分析例の紹介―

信州大学　
工学部電子情報システム工学科
教授　橋本佳男先生

_{1993 東大大学院修了、博士（工学）取得。

1994 信州大学工学部に助手として着任、以降、同助教授、教授として信州大学に勤務。（化合物薄膜太陽電池の研究）

2014 -2019 信州大学先鋭領域融合研究群カーボン科学研究所長

2012 ‐2021 ナノテクノロジープラットフォーム信州大学実施責任者

2021 -2029 マテリアル先端リサーチインフラ信州大学スポーク代表}

信州大学で学内外に共用する高分解能X線顕微鏡（Xradia 620 Versa）の広範囲な学術分野での分析例をお話します。伝熱材料の人造黒鉛では成型条件により空隙の形状や大きさの変化がします。一方、ダイヤモンド／銅複合材では、ダイヤモンド粒の隙間を銅が埋める構造が確認できます。また、生体材料のチタン材では、チタン線の処理による内部空孔の変化が観察されます。さらに、自然石（石灰岩）の内部空隙と地震波伝搬への効果についての調査結果も紹介します。