全日程 / 7B - 606

ブース展示では、FIB-SEMで自動化されたTEM用試料作製を簡素化する「Crossbeam Samplefab」、低加速電圧でも高い解像度とコントラストを達成する電界放出型走査電子顕微鏡「 Sigma」シリーズ、「GeminiSEM」シリーズ、AI自動化トレンドや新発売された「ZEN core EM」、電池や自動車業界などで導入が進む非破壊のX線顕微鏡「Versa XRM」シリーズを各ソリューションに分けてご紹介、ご提案いたします。

＜各ソリューション＞

・半導体ソリューション（Crossbeam Samplefab）
・材料解析ソリューション（Sigma / Gemini）
・産業向けソリューション（Metrotom / Versa XRM）

誰もが簡単にZEISS Geminiカラムを使いこなせる新開発のFE-SEM制御ソフトウェア「ZEN core EM」。更にEDS検出器を統合し、観察、分析からデータ出力まで、操作性の高さとスループットの向上を実感していただけます。

開催時間：9月3日(水) 12:30 - 13:00
開催会場：TKP東京ベイ幕張ホール（旧アパ）会場 No.8 号室　マップ

半自動ワークフローにより、X線CT未経験の方でも簡単にサブミクロンオーダーの非破壊微細構造イメージング可能なZEISS VersaXRMのご紹介をさせていただきます。

開催時間：9月4日(木) 14:00 - 14:30
開催会場：幕張メッセ会議場 105会議室 マップ