ZEISS Nanotechnology User Meeting 2019

ツァイスユーザーによる最先端解析事例の紹介

本会ではZEISSユーザー様より、電子顕微鏡及びX線顕微鏡のご活用事例や最新のトピックをご紹介いただきます。ZEISSからは、技術者による最新技術と製品情報をお届けします。先端顕微鏡技術の導入と理解に役立つプログラムで皆様の参加をお待ちしております。

【講演テーマ】

  • ハイスループットの三次元解析を実現するFIB-SEM/ZEISS Crossbeam 550
  • 低加速電圧での高解像イメージング技術/ZEISS Geminiカラムテクノロジー
  • 高解像の非破壊X線顕微鏡/ZEISS Xradia 520 Versa
ZEISS Crossbeam 550
ハイスループットの三次元解析を実現するFIB-SEM/ZEISS Crossbeam 550
ZEISS Geminiカラムテクノロジー
低加速電圧での高解像イメージング技術/ZEISS Geminiカラムテクノロジー
ZEISS Xradia 520 Versa
高解像の非破壊X線顕微鏡/ZEISS Xradia 520 Versa Polymer Composite Matrix Al alloy grain morphology

開催概要

大阪
Osaka

【日時】2019年2月6日(水) 13:00 - 17:30

【場所】ヒルトン大阪

【定員】40名(先着順)

詳細はこちら(大阪)

東京
Tokyo

【日時】2019年2月8日(金) 13:00 - 17:30

【場所】TKPガーデンシティPREMIUM京橋

【定員】70名(先着順)

詳細はこちら(東京)

  • 講演終了後、懇親会を行います。あわせての参加をお待ちしています。
  • 講演、懇親会ともに、参加は無料です。

【お問合せ】

カールツァイス株式会社 マイクロスコピーディビジョン

ZEISS Nanotechnology User Meeting 2019 運営委員会