ZEISS Nanotechnology User Meeting 2019, Osaka

【大阪開催】ツァイスユーザーによる最先端解析事例の紹介

大阪開催 概要

【会期】 2019年2月6日(水) 13:00 - 16:45(12:30 受付開始)

※講演終了後、懇親会を行います。あわせての参加をお待ちしています。
※講演・懇親会ともに、参加は無料です。

【場所】 ヒルトン大阪 (4F 真珠の間)

【スケジュール】

12:30 - 13:00 受付
13:00 - 16:45 講演
16:45 - 18:45 懇親会

※定員に達し次第受付を終了させていただきます。
※顕微鏡関連業者様の参加はお控えください。

タイトル・講演者

「X線顕微鏡を用いた解析事例の紹介 ~非破壊分析でここまで分かる!~ 」 株式会社日東分析センター 川西隆史様
「FIB-SEM Crossbeam 大容量加工レーザーシステムを使用したデバイス断面観察」 キヤノン株式会社 中山学様

「ZEISS EM Core Technology and New portfolio」 Carl Zeiss Microscopy GmbH Dr. Fang Zhou
「ZEISS X線顕微鏡のポートフォリオと新製品のご紹介」 カールツァイス株式会社 速水信弘
「ZEISS技術革新とポートフォリオ」 カールツァイス株式会社 佐藤朗

アクセス

ヒルトン大阪

道案内

ヒルトン大阪

〒530-0001 大阪市北区梅田1-8-8

  • JR「大阪駅」より徒歩約2分

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