ZEISS Nanotechnology User Meeting 2019, Tokyo

【東京開催】ツァイスユーザーによる最先端解析事例の紹介

東京開催 概要

【会期】 2019年2月8日(金) 13:00 - 16:45(12:30 受付開始)

※講演終了後、懇親会を行います。あわせての参加をお待ちしています。
※講演・懇親会ともに、参加は無料です。

【場所】 TKPガーデンシティPREMIUM京橋 (22階 A/B)

【スケジュール】

12:30 - 13:00 受付
13:00 - 16:45 講演
16:45 - 18:45 懇親会

※定員に達し次第受付を終了させていただきます。
※顕微鏡関連業者様の参加はお控えください。

 

タイトル・講演者


「3次元X線顕微鏡と各種非破壊解析装置を組み合わせた解析事例のご紹介 」 東芝ナノアナリシス株式会社 堤雅義様
「FIB-SEM Crossbeam 大容量加工レーザーシステムを使用したデバイス断面観察」 キヤノン株式会社 中山学様

「ZEISS EM Core Technology and New portfolio」 Carl Zeiss Microscopy GmbH Dr. Fang Zhou
「ZEISS X線顕微鏡のポートフォリオと新製品のご紹介」 カールツァイス株式会社 速水信弘
「ZEISS技術革新とポートフォリオ」 カールツァイス株式会社 佐藤朗

アクセス

TKPガーデンシティPREMIUM京橋

道案内

TKPガーデンシティPREMIUM京橋

〒104-0031 東京都中央区京橋2-2-1

  • JR「東京駅」八重洲南口より徒歩約5分

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