ツァイス ナノテクノロジー2019

ZEISS Nanotechnology 2019

電子顕微鏡をはじめとした、ZEISSの多彩な顕微鏡ラインナップをご紹介します。詳しくはダイジェストカタログPDFをご覧ください! ツァイスナノテクノロジー ダイジェストカタログ2019 はこちら

ラインナップ

FIB-SEM

集束イオンビーム加工観察装置

ZEISS Crossbeam 340 / 550

高いレベルのイメージングと解析性能を両立させるGeminiカラムを搭載したFE-SEMと、圧倒的な切削効率を達成した次世代FIBの複合システム。

FE-SEM

極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡

ZEISS GeminiSEM 300 / 450 / 500

Gemini光学系により低加速および超低加速電圧下で、高分解能かつ高コントラストの試料最表面イメージングを実現。

FE-SEM

汎用フィールドエミッション走査型電子顕微鏡

ZEISS Sigma 300 / 500

高画質イメージングと分析用FE-SEM。イメージングや解析ルーチンを構成し、生産性を向上。

SEM

調査研究用ルーチン走査型電子顕微鏡

ZEISS EVO 10 / 15 / 25

ルーチンイメージングタスクを自動化することで高い生産性を実現。

Multi-SEM

世界最速のマルチ走査型電子顕微鏡

ZEISS multiSEM 505 / 506

最大10cm x 10cmエリア、連続的にハイスループット自動化イメージング。

ZEISS ORION NanoFab

マルチイオンビーム顕微鏡

ZEISS ORION NanoFab

3つのイオンビームを搭載、サブ10nmの加工が可能な高い柔軟性。

非破壊3D X線顕微鏡

非破壊三次元X線顕微鏡

ZEISS Xradia 620 Versa

空間分解能500nmと最小達成可能ボクセルサイズ40nm。分解能を犠牲にすることなく高いビーム強度と高速スキャンを実現。

お問合せフォーム

カタログ、デモのご依頼等はこちら

製品ダイジェストカタログPDF(日本語)をメールでお送りします。下記フォームからご登録をお願いします。
※ツァイスからの定期的なメールでの情報提供を希望される場合は「メール配信を希望します」にチェックを入れてください。

アプリケーション

小型パウチ型電池

小型パウチ型電池
Xradia; 0.4x オーバービュースキャン; 4xResolution at a Distance; 20x Resolution at a Distance

ナノパターニング

シリコンマスタースタンプ上に作製されたナノ流体工学チャンネル
Crossbeam; シリコンマスタースタンプ上に作製されたナノ流体工学チャンネル。提供:I. Fernández-Cuesta, INF Hamburg, Germany.

メソポーラスシリカにコバルトナノ粒子

メソポーラスシリカにコバルトナノ粒子
GeminiSEM 450; EDS/STEM、加速電圧:25 kVdetector.

銀ナノ粒子付着ファイバー

銀ナノ粒子付着ファイバー
Sigma; 加速電圧:1 kV、(左)Inlens Duo SE像、(右)Inlens Duo BSE像 創傷ケア抗菌 コート

ボンディングワイヤ

 ボンディングワイヤ
EVO; 高真空及び低真空モードでの二次電子像による不良解析

タングステン線

タングステン線
ORION NanoFab; テスト構造体上に100 nm幅のタングステン線。加工:Neイオンビーム、イメージング:Heイオンビーム