JFEテクノリサーチ株式会社主催、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社、カールツァイス株式会社共催

最新ULV-SEMと高性能分析機器の活用に関するセミナー

JFEテクノリサーチ株式会社主催、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社、カールツァイス株式会社共催

【6/10(金)】最新ULV-SEMと高性能分析機器の活用に関するセミナー

最新の極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)技術が世界を変える

開催日時

2022年6月10日(金) 13:30 - 15:30

スケジュール

3-1. 「最新の走査電子顕微鏡でここまでできる材料組織解析 ー多様な検出器の最大活用ー」
JFEテクノリサーチ株式会社 佐藤 馨

3-2.「イメージング・分析・画像解析の全てを高精度かつ高速に:最新ZEISS GeminiSEM 460 Gemini Technologyのご紹介」
カールツァイス株式会社 小田 武秀

3-3. 「材料表面特性を解釈するための極表面・断面解析技術」
JFEテクノリサーチ株式会社 池本 祥

3-4. 「高感度EBSD検出器Symmetry/SymmetryS2とULV-SEMを組み合わせた応用例」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 森田 博文

3-5. 「機械特性を支配する金属材料組織・ひずみ分布解析」
JFEテクノリサーチ株式会社 阪口 友唯

3-6. 「お客様ニーズに応じてナノ解析センターが提供する解析事例」
JFEテクノリサーチ株式会社 山田 克美

参加方法

詳細・参加登録はJFEテクノリサーチ様のページをご覧ください。

お問合せ

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