API : Application Programming Interface

ZEISS Remote & Smart / Human machine interface

FIB-SEM / FE-SEM 自動・遠隔・研究ワークフローの高効率化ソリューション

新型コロナウイルスの到来により電子顕微鏡を日常的な研究ツールとして用いる研究/開発/解析/試験の現場は時間や距離、操作人数、同僚とのコミュニケーション、機器稼働率、研究計画、実機デモンストレーション、論文執筆等々へ多くの「制限」に直面しました。
ZEISSはこれらの制限と上手に付き合うためのソリューションを動画でご紹介します。是非、視聴登録をお願いします。

内容

API(Application Programming Interface)を中心にFIB-SEM/FE-SEMの自動化、遠隔化、高速化、研究ワークフローの効率化など働き方改革への先行的な試みとしてZEISSの誇るソフトウェア技術を紹介し、皆様の研究・業務・ご負担軽減へダイレクトに活かされることを期待しています。

キーワード

API、Application Programming Interface、In-Situ、Special Customer Solutions、遠隔制御、高速オートフォーカス、Python/C#/C++、加速電圧/照射電流/倍率/ステージ制御、インターロック、マクロ、APPEAR、スループット、SmartSEM、SmartFIB、Cloud、Digital Image Processing、Platform、Databased、Material Science、AI、Deep Learning、Machine Learning

対象

FIB-SEM/FE-SEMの自動制御、遠隔制御、プログラミング、ワークフローの効率化、省コスト化、In-Situ試験、オペレートコスト低減、各種材料/試験データベース構築等へ関心をお持ちの方

スピーカー

ZEISS Research Microscopy Solutions
Etsuo MAEDA, Dr. Eng.

カールツァイス株式会社 リサーチマイクロスコピーソリューション
前田 悦男 博士(工学)

視聴方法

登録フォームへ入力をお願いします。後ほど視聴サイトをメールでお送りします。(登録期限:2021年1月31日)

登録フォーム

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