ZEISS Microscopy Academy Online

Material Science Day - 2020年6月30日

COVID-19の影響により多くの学会やイベントが中止となり、研究者間での情報共有の機会が失われています。
ZEISSは、先端の光学・電子顕微鏡ユーザーのために最新の顕微鏡技術をオンラインで共有する”ZEISS Microscopy Academy Online”を開催します。
光・電子・X線顕微鏡により、すべてのスケールレンジで高分解能・高コントラストのイメージングを提供するZEISSならではの最新アプリケーションを集めたウエビナー。
先端顕微鏡ユーザーによる基調講演をはじめ、”Material Science Day”と”Life Science Day”の2日間にわたりご紹介いたします。

6/19 基調講演の詳細情報を追加しました。

木村 正雄 先生 | 高エネルギー加速器研究機構(KEK)・物質構造科学研究所(IMSS)

基調講演

X線顕微鏡を用いた、炭素繊維強化プラスチック(CFRP)のき裂のマルチスケール&非破壊観察

木村 正雄 先生

高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所

CFRPは炭素繊維とプラスチックからなる複合材料である。そのき裂メカニズム解明のために、放射光および in-house X線によるマルチスケール(nm〜umの空間分解)でX-CT観察を行った。本アプローチは非破壊観察の手法として様々な材料への展開が期待できる。

Material Science Day スケジュール

2020年6月30日(火) 14:00-

14:00-14:10   Opening Remarks

Andre Kompa
カールツァイス株式会社

14:10-14:40   基調講演: X線顕微鏡を用いた、炭素繊維強化プラスチック(CFRP)のき裂のマルチスケール&非破壊観察

木村 正雄 先生
高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所

CFRPは炭素繊維とプラスチックからなる複合材料である。そのき裂メカニズム解明のために、放射光および in-house X線によるマルチスケール(nm〜umの空間分解)でX-CT観察を行った。本アプローチは非破壊観察の手法として様々な材料への展開が期待できる。

(日本語)

14:40-14:55   最新X線顕微鏡による高分解能非破壊3Dイメージング

速水 信弘
カールツァイス株式会社

ZEISS独自のResolution at a Distance(RaaD)機能は、さまざまなサイズと種類の試料に対し、長い作動距離でのサブミクロン分解能のイメージングを可能にします。最新のZEISS Xradia 600シリーズならば、最小達成可能ボクセルサイズ40 nm、空間分解能500 nmを実現できます。本講演では、X線顕微鏡の原理とアプリケーション事例をご紹介いたします。

(日本語)

14:55-15:10   ZEISS X線顕微鏡 3D Diffraction Contrastによる結晶粒形態と方位マッピング

Nan Liu
Carl Zeiss GmbH

多結晶材料の特性は、個々の粒子、その結晶方位、サイズと形状、および空間分布などの3D微細構造に依存します。LabDCT(回折コントラストトモグラフィー)は、3Dの結晶方位と微細構造を非破壊でマッピングすることが可能です。3D結晶粒の方位を直接的に可視化することで、金属合金および多結晶材料の特性評価に新たな次元を切り拓きます。

(英語)

15:10-15:40   フェムト秒レーザー(fs-Laser)を搭載したFIB-SEMで大面積加工を実現 材料分野への応用

小田 武秀
カールツァイス株式会社

集束イオンビーム(FIB)とフェムト秒パルスレーザー(fs-Laser)を搭載したfs-Laser FIB-SEMは、近年様々な研究分野で注目を集めています。レーザーによる大面積加工により、試料の深部に高速に到達し、その後FIB-SEMにより目的領域の微細加工と詳細な観察・分析をすることが可能です。特にフェムト秒パルスレーザーを用いることで、レーザー加工によるサンプルへのダメージや熱による変質を最小化することができます。本講演では、fs-Laser FIB-SEMの基本的な特徴から最新のアプリケーション実例まで幅広くご紹介します。

(日本語)

15:40-15:55   バッテリー材料研究(LIB)のための20 nm以下の空間分解能SIMS分析ソリューション

Hanfang Hao
Carl Zeiss GmbH

Liイオン電池のLi分布の分析は、LIB研究の最優先事項の1つです。 EDSなど従来の分析手法では、Liベースの化合物を検出することが困難であり、ラマンなどの他の手法では分解能が制限されます。 ZEISS ORION NanoFabは、He +ビームによる高解像度の二次電子イメージングとNe +によるナノファブリケーションを可能にするイオン顕微鏡で、プローブサイズはそれぞれ0.5 nmと2 nmです。これに、SIMS検出器を追加することで、前例のない〜15 nmの空間分解能でin situでの元素分析を可能にしました。LIB研究に新しい可能性を提案します。

(英語)

15:55-16:10   ZEISS Geminiカラムによる強磁性サンプルイメージングのご紹介

Hanfang Hao
Carl Zeiss GmbH

ZEISSの新しいGeminiカラムには独自の複合レンズが搭載されており、外部への浮遊磁場を最小限に抑えます。また、カラム内部での減速機構により、低加速電圧でも優れたシグナル検出が保証されます。ソフトマグネットまたは消磁されたサンプルは、適切なトポグラフィー、材料、および磁気コントラストで、高倍率で画像化できます。EDSおよびEBSDを使用したさらなる分析も可能です。

(英語)

16:10-16:25   ZEISS SEMと完全にインテグレーションされたin situ 材料評価ソリューション

Fang Zhou
Carl Zeiss GmbH

最大限の再現性と精度で有意義なデータを生成する、in situ測定の自動ワークフローをご紹介します。自動化されたワークフローにより、高解像度かつ正確な荷重パラメーターでの高スループットのデータ収集が可能になります。取得したデータセットは高品質であり、デジタル画像相関(DIC)による高解像ひずみマッピングなど、後のプロセシングやデータ分析が容易になります。

(英語)

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2020年6月30日 Material Science Day

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