ZEISS Webinar Video

In-situのためのZEISS GeminiSEM先端技術紹介

ZEISSは2020年11月に最新のFE-SEM、New GeminiSEM Familyをリリースしました。本公演では、New GeminiSEM Familyの最新技術の中でも特にIn-situ測定に役立つ機能をピックアップしてご紹介します。

(本公演は2021年9月28日に行われた、【ZEISS x Bruker共催】最新in-situ技術セミナー ~Gemini x PicoIndenterで見て分かるナノ材料物性~の講演の録画となります。)

ZEISS GeminiSEM Family 製品ページ

対象

  • 電子顕微鏡をお使いの方
  • 電子顕微鏡でのIn-situ測定に興味をお持ちの方
  • 最新のイメージング技術に興味をお持ちの方

講演内容

世界のFE-SEMイメージングテクノロジーをリードするZEISSは2020年11月、待望のNew GeminiSEM Familyをリリースしました。近年、電子顕微鏡やX線顕微鏡などの観察ツールが、各種材料試験のプラットフォームとしての役割を期待されています。そこで本講演ではNew GeminiSEM Familyの最新機能の中でもIn-Situイメージングへ有効なGEMINIカラムによる高効率な発生電子の収集と理にかなった電子の選択検出により得られる高精細なコントラスト、非導電性試料の各種帯電抑制、試料室内の雰囲気可変によるユニークで独自の基幹技術を中心に最新のApplication事例を紹介します。

(本公演は2021年9月28日に行われた、【ZEISS x Bruker共催】最新in-situ技術セミナー ~Gemini x PicoIndenterで見て分かるナノ材料物性~の講演の録画となります。)

キーワード・ポイント

  • ZEISSの最新FE-SEMポートフォリオ
  • In-situ測定向きSEM技術

スピーカー

風間 大和
カールツァイス株式会社

視聴方法

登録フォームから視聴お申込みをお願いします。メールにて視聴サイトのご案内をいたします。(視聴期限:2022年1月28日)

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