ZEISS Webinar Video

その場観察技術

高温引張試験関連機器とデジタル画像相関技術のアップデート

2022年に正式のリリースとなった、電子顕微鏡下での in situ、その場観察ソリューションについて紹介します。
ZEISS の得意とする高品位な電子顕微鏡像をつかって、引張試験中の連続撮影やBSD検出器によるチャネリングコントラストの観察、画像相関による変位・歪解析、EBSDマップによる粒界の変形観察が可能となります。

対象

  • 走査型電子顕微鏡下の、その場観察技術に興味のある方
  • 引張試験に興味のある方
  • 高温試験に興味のある方
  • デジタル画像相関に興味のある方

講演内容

これまでの、走査型電子顕微鏡を使ったその場観察では、サンプルの準備からROIの決定、ステージの加熱、引張試験、撮影、画像相関の作成のほぼ全工程で手動の操作が必要でした。撮影対象によっては、一部のフローを数十回繰り返すことになり、多くの労力が必要でした。今回、ZEISSは、協業する検出器メーカ様やソフトウェアデベロッパ様とのコラボレーションにより、一連の処理を、APIを介してオートメーション化しました。このソリューションにより、その場観察の省力化だけでなく、人の手の介在を除去することによって、試験の連続性も向上させることができます。

キーワード・ポイント

  • 走査型電子顕微鏡
  • その場観察
  • In situ
  • 引張試験
  • 高温試験
  • 画像相関

スピーカー

Dr. Etsuo MAEDA
ZEISS Microscopy Customer Center
Carl Zeiss Co., Ltd.

視聴方法

登録フォームから視聴お申込みをお願いします。メールにて視聴サイトのご案内をいたします。(視聴期限:2022年9月30日)

登録フォーム

ご登録のメールアドレス宛に視聴サイトをご案内します。

ZEISS最新情報

イベントや新製品など、最新の情報をおとどけします。ぜひご登録をお願いします。

お問合せ

カールツァイス株式会社 リサーチマイクロスコピーソリューション
ストラテジックマーケティング(ウェビナー担当)お問合せ