ソフトウェア
ナノスケール/相関分析
要件に合わせて構成可能な粒子解析向けのカスタムソリューション
ZEISSシステムでフィルター上の粒子を解析し、材料の化学組成について詳しく理解しましょう。電子顕微鏡とSmartPIを使用し、最大20万個の粒子の解析を完全に自動化できます。相関粒子解析システムは、光学顕微鏡と電子顕微鏡法を用いた解析を結びつけるための最適なソリューションです。ISO 16232およびVDA19規格に準拠しています。
SmartPI
SmartPI:自動粒子解析
SmartPIは、化学組成のEDS分析を含む、ナノメートルレベルでの粒径の自動粒子解析ツールとしてのメリットを提供します。境界線上にある粒子も正しくカウントされます。1つのユーザーインターフェースでEDSとSEMを操作可能です。様々な評価方法、オフライン解析、測定や統計から粒子を除外するなどの方法を用いて、解析に適切なレベルを設定し、効果的に記録されたレポートを作成することができます。システムをアップグレードして相関粒子解析(CAPA)を実施することも可能です。
自動ナノスケール粒子解析向けのZEISS SmartPIには、以下が含まれます。
- EVO、SIGMA、MERLIN、ParticleSCAN、JetSCANなどの電子顕微鏡
- SmartPIソフトウェア
CAPA
Correlative Particle Analyzer
迅速な粒子解析
- 化学粒子解析には、高分解能のZEISSバンドルが最適
- 結果取得までの時間を10倍短縮
- 反射性粒子(金属など)と非反射性粒子のサイズを分類し、光学顕微鏡で繊維を同定
- 次に、電子顕微鏡で粒子の位置を再度同定し、完全に自動化されたEDS解析を実施
- 光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方を用いて得た結果を、1つのレポートに集約
- 粒子解析に関するISO 16232およびVDA19規格に準拠
相関粒子解析用のCorrelative Particle Analyzerに含まれるもの:
- 電子顕微鏡EVO MA 10
- 完全電動ズーム顕微鏡Axio Zoom.V16
- 相関解析用試料ホルダー
- Correlative Particle Analyzer用ソフトウェアAxioVision