材料解析のためのZEISS ZEN Shuttle & Find

ZEISS ZEN Shuttle & Find マテリアル用

ZEISS ZEN Shuttle & Find for Correlative Microscopy in Materials Analysis

Bridging the Micro and Nano World

ZEISS Shuttle & Findは、光学顕微鏡と電子顕微鏡を接続する光・電子相関顕微鏡インターフェース技術で、材料分析に特化したデザインです。ハードウェアとソフトウェアを組み合わせたソリューションで、試料をある顕微鏡システムから別の顕微鏡システムへ、たった数分で移転することができます。また、カールツァイスのシステムをいくつでも組み合わせて光・電子相関顕微鏡観察を行うことができます。

特長

  • 関心領域の高速リロケーション
    光学顕微鏡で画像を取得し、関心領域(ROI)をマークします。関心領域は、試料の画像とともに保存されます。電子顕微鏡では、自動キャリブレーションやワークルーチンを用いて、簡単に関心領域のリロードやリロケーションが可能です。
 
  • 詳細情報
    光学照明法と光学顕微鏡で得たサイズ、形態、色の情報を、電子顕微鏡の解析手法と組み合わせます。試料の構造と機能の両方についての情報を得ることができます。
 
  • ワンストップ・ショッピング
    カールツァイスは、あらゆる性能の光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方を製造している世界唯一のメーカーです。マイクロとナノの世界を結びます。光学顕微鏡、電子顕微鏡、その2つを結ぶソリューション。ツァイスでは、そのすべてを手に入れることができます。

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Correlative Microsopy Shuttle & Find

Bridging the Micro and Nano World in Materials Analysis

ページ: 12
ファイルサイズ: 9.024 kB

White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Aged Li-Ion Batteries with "Shuttle & Find"

Correlative Microscopy allows a high productivity in structural analysis of Li-ion batteries due to a fast, reliable and precise workflow between light microscopy and SEM. This enables new possibilities especially for quantitative image data analysis of the same region of interest.

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.177 kB

White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Cross-section Samples from an 18th Century Oil Painting with "Shuttle & Find"

We present the cross–section sample analysis of an oil painting on canvas. Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM) is used for analyzing the cross–section samples, combining the optical properties of light microscopy (LM) with the detailed structural and chemical analysis of the scanning electron microscope (SEM), along with energy dispersive X–ray spectrometer (EDS).

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.605 kB

White Paper: Microstructural Investigation of Austempered Ductile Iron (ADI) with "Shuttle & Find"

Interface for Correlative Microscopy in Materials Analysis

ページ: 5
ファイルサイズ: 2.766 kB

White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

Shuttle & Find

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.951 kB

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

ページ: 41
ファイルサイズ: 4.478 kB

Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow

ページ: 8
ファイルサイズ: 1.456 kB

White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.755 kB

Application Note

Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

ページ: 5
ファイルサイズ: 1.245 kB