光・電子相関顕微鏡システム Shuttle & Find

光・電子相関顕微鏡システム

Shuttle & Find

Shuttle & Find

  • はじめに

    材料分析用に電子顕微鏡と光学顕微鏡を統合

    カールツァイスのShuttle & Findは、光学顕微鏡と電子顕微鏡を接続する光・電子相関顕微鏡インターフェース技術で、材料分析に特化したデザインとなっています。
    ハードウェアとソフトウェアを組み合わせたソリューションで、試料をある顕微鏡システムから、別の顕微鏡システムへたった数分で移転することができます。今までは、この処理に数時間、あるいは数日が必要でした。

    カールツァイスのShuttle & Findは、自由度の高い双方向システムです。Shuttle & Findを利用すれば、カールツァイスのシステムをいくつでも組み合わせて光・電子相関顕微鏡観察を行うことができます。また、中間準備ステップをサポートしているため、別のシステムに切り替えた際に、サンプルは最適な状態で利用できるようになっています。

    Shuttle & Findは、同じ関心領域を検索するプロセスを自動化することによって、ワークフローを高速化します。これは、材料分析において大変重要なことです。サイクルタイムが短くなるため、短い時間で多数のサンプルを処理することができるようになります。

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  • 主な特徴
    ELYRA – 主な特徴
    • 関心領域の高速リロケーション::
      光学顕微鏡で画像を取得し、関心領域(ROI)をマークします。関心領域は、試料の画像とともに保存されます。電子顕微鏡では、自動キャリブレーションやワークルーチンを用いて、簡単に関心領域のリロードやリロケーションが可能です。
    • 詳細情報:
      光学照明法と光学顕微鏡で得たサイズ、形態、色の情報を、電子顕微鏡の解析手法と組み合わせます。試料の構造と機能の両方についての情報を得ることができます。
    • ワンストップ・ショッピング:
      ツァイスは、あらゆる性能の光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方を製造している世界唯一のメーカーです。マイクロとナノの世界を結びます。光学顕微鏡、電子顕微鏡、その2つを結ぶソリューション。ツァイスでは、そのすべてを手に入れることができます。

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  • 相関粒子解析

    相関粒子解析 - 高観察力、高品質。

    プロセスに欠かせない粒子の特性評価を行います。Correlative Particle Analyzerは、光学顕微鏡、電子顕微鏡の両方から、データを結合できます。光学顕微鏡で粒子を検出すれば、カールツァイスの相関粒子解析によって、位置再生とEDX解析が全自動で行われます。残留粒子の特性評価力を強化するのに最適です。

    Correlative Particle Analyzerは、光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方の解析結果レポートを自動的に生成します。光学顕微鏡と電子顕微鏡で個々に一連の解析を行うよりも、最大で10倍高速です。

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  • ダウンロード

    Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

    Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

    ページ: 41
    ファイルサイズ: 4.478 kB

    Correlative Microsopy Shuttle & Find

    Bridging the Micro and Nano World in Materials Analysis

    ページ: 13
    ファイルサイズ: 3.174 kB

    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Aged Li-Ion Batteries with "Shuttle & Find"

    Correlative Microscopy allows a high productivity in structural analysis of Li-ion batteries due to a fast, reliable and precise workflow between light microscopy and SEM. This enables new possibilities especially for quantitative image data analysis of the same region of interest.

    ページ: 6
    ファイルサイズ: 1.177 kB

    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Cross-section Samples from an 18th Century Oil Painting with "Shuttle & Find"

    We present the cross–section sample analysis of an oil painting on canvas. Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM) is used for analyzing the cross–section samples, combining the optical properties of light microscopy (LM) with the detailed structural and chemical analysis of the scanning electron microscope (SEM), along with energy dispersive X–ray spectrometer (EDS).

    ページ: 6
    ファイルサイズ: 1.605 kB

    White Paper: Microstructural Investigation of Austempered Ductile Iron (ADI) with "Shuttle & Find"

    Interface for Correlative Microscopy in Materials Analysis

    ページ: 5
    ファイルサイズ: 2.766 kB

    White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

    Shuttle & Find

    ページ: 6
    ファイルサイズ: 1.951 kB

    Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

    By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow

    ページ: 8
    ファイルサイズ: 1.456 kB

    White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

    of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

    ページ: 6
    ファイルサイズ: 1.755 kB

    Application Note

    Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

    ページ: 5
    ファイルサイズ: 1.245 kB