電子顕微鏡・イオン顕微鏡

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SEM

走査型電子顕微鏡

極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡 GeminiSEM

極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡

GeminiSEM

ナノメートル以下の分解能と高い検出効率での簡単イメージングを実現した、極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡

GeminiSEM 300/450/500

汎用フィールドエミッション走査型電子顕微鏡 Sigma Family

汎用フィールドエミッション走査型電子顕微鏡

Sigma Family

直感的な4ステップのワークフローでイメージングや解析ルーチンを構成し、生産性を向上。高画質イメージングと分析に適したFE-SEM

Sigma 300/500

マルチ走査型電子顕微鏡 MultiSEM

マルチ走査型電子顕微鏡

MultiSEM

従来の走査型電子顕微鏡の中でも最大の試料サイズ、最速スキャンを実現したマルチ走査型電子顕微鏡

MultiSEM 505/506

ルーチン走査型電子顕微鏡 EVO

ルーチン走査型電子顕微鏡

EVO Family

直感的な操作が可能な調査研究用ルーチン走査型電子顕微鏡

EVO 10/15/25

走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡

Particle SCAN/Jet SCAN

特殊な要求やニーズに対応した走査電子顕微鏡

 

【粒子解析】 Particle SCAN

【エンジン故障解析】 Jet SCAN


FIB-SEM

集束イオンビーム(FIB)-SEM複合装置

集束イオンビーム(FIB)-SEM CrossBeam

集束イオンビーム(FIB)-SEM

CrossBeam Family

高いレベルのイメージングと解析性能を両立させるGEMINIカラムを搭載したFE-SEMと、圧倒的な切削効率を達成した次世代FIBの複合システム

Crossbeam 340/550


マルチイオンビーム顕微鏡

マルチイオンビーム顕微鏡 ORION NanoFab

マルチイオンビーム顕微鏡

ORION NanoFab

3つのイオンビームを搭載、サブ10nmの加工が可能な高い柔軟性。マイクロマシニングからナノマシニングまでをカバーする唯一のシステム

ORION Nano Fab

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