走査型電子顕微鏡
SEM（Scanning Electron Microscope）
極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡（FE-SEM）
ZEISS GeminiSEM
低加速電圧下で高コントラストを実現、さまざまなサンプルに対応可能な極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡。サブナノスケールの分解能と高い検出効率でのイメージングが簡単に。
汎用フィールドエミッション走査型電子顕微鏡（FE-SEM）
ZEISS Sigma
マルチ走査型電子顕微鏡（Multi-SEM）
ZEISS MultiSEM
従来の走査型電子顕微鏡の中でも最大の試料サイズ、最速スキャンを実現したマルチ走査型電子顕微鏡。単一ビームのSEMに比べ、20倍以上のスピードでナノメートルレベル分解能でのイメージングが可能に。
ルーチン走査型電子顕微鏡（SEM）
ZEISS EVO
走査型電子顕微鏡（SEM）
ZEISS Particle SCAN／Jet SCAN
電界放出型走査電子顕微鏡と次世代集束イオンビームの複合装置
FIB-SEM（FIB／FE-SEM）
電界放出型走査電子顕微鏡・次世代集束イオンビーム（FIB-SEM）
ZEISS Crossbeam
高いレベルのイメージングと解析性能を両立させるGEMINIカラムを搭載したFE-SEMと、圧倒的な切削効率を達成した次世代FIBの複合システム。
マルチイオンビーム顕微鏡
