材料解析・生命科学むけの走査電子顕微鏡

ZEISS の走査電子顕微鏡（SEM）は、材質のコントラストが豊かな高解像表面情報を提供します。これらは、ナノテクノロジ、材料分析、半導体故障解析、生命科学、品質保証などのアプリケーションで広く利用されています。

EVOは、ワークフローの自動化、比類ない表面イメージング、環境制御型顕微鏡観察などに利用できる高解像度走査電子顕微鏡です。

高度な電子顕微鏡解析。解析アプリケーション用のSIGMA電界放出型走査電子顕微鏡の低電圧イメージングと大変安定したプローブ電流をご活用ください。

フィールドエミッションSEM（FE‐SEM）のテクノロジに高度な解析を組合わせました。　粒子、表面、ナノレベルの構造のイメージングまで、Sigma にはセミオートの4ステップのワークフローがあり、時間を節約できます。

MERLIN は、ナノメートル以下の世界を観察する電界放出型走査電子顕微鏡のフラグシップモデルです。きわめて高い解像度のイメージングと高電流ビームを併用し、単一プラットフォームで超高速ナノ解析を行います。

特殊な要求やニーズに対応した走査電子顕微鏡
粒子解析用 ParticleSCAN
エンジン故障解析用 JetSCAN

61本の平行電子ビームを搭載した世界最速の走査電子顕微鏡

イメージングをシンプルに－サブナノメータ分解能と高い検出効率、圧力可変モードにおいても同様で、高真空での作業のような操作感です。