SEM
走査型電子顕微鏡
極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡
GeminiSEM
ナノメートル以下の分解能と高い検出効率での簡単イメージングを実現した、極低加速フィールドエミッション走査型電子顕微鏡
汎用フィールドエミッション走査型電子顕微鏡
Sigma Family
直感的な4ステップのワークフローでイメージングや解析ルーチンを構成し、生産性を向上。高画質イメージングと分析に適したFE-SEM
マルチ走査型電子顕微鏡
MultiSEM
従来の走査型電子顕微鏡の中でも最大の試料サイズ、最速スキャンを実現したマルチ走査型電子顕微鏡
ルーチン走査型電子顕微鏡
EVO Family
直感的な操作が可能な調査研究用ルーチン走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
Particle SCAN／Jet SCAN
FIB-SEM
集束イオンビーム（FIB）-SEM複合装置
集束イオンビーム（FIB）-SEM
CrossBeam Family
高いレベルのイメージングと解析性能を両立させるGEMINIカラムを搭載したFE-SEMと、圧倒的な切削効率を達成した次世代FIBの複合システム
マルチイオンビーム顕微鏡
マルチイオンビーム顕微鏡
ORION NanoFab
3つのイオンビームを搭載、サブ10nmの加工が可能な高い柔軟性。マイクロマシニングからナノマシニングまでをカバーする唯一のシステム