The ZEISS Embedded EDS Solution for Your Routine SEM Microanalysis Applications
SIGMA シリーズ電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)によって、高度な解析用の顕微鏡観察を行うことが可能です。インレンズ二次電子検出を行う GEMINI 鏡筒を備えた SIGMA シリーズは、並ぶものがない解像度とコントラスト、輝度で複雑なトポグラフィの試料のイメージングを実現します。高真空と圧力可変モードによる操作で、導電性・非導電性試料の高品位イメージングが可能です。
SIGMA についてのお問い合わせは こちら