ParticleSCAN VP

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SmartPI ユーザインタフェースを搭載した高耐久性走査電子顕微鏡

ParticleSCAN VP

  • ParticleSCAN VP

    ParticleSCAN VP : プロセス制御の新次元

    ParticleSCAN VP は、大変刺激的な製品として ZEISS の走査電子顕微鏡(SEM)製品群に加わりました。 ParticleSCAN は、様々な工業環境すなわち実地および製造環境向けに開発されてきました。

    ParticleSCAN は耐久性のあるデザインになっており、粒子の自動解析において総合的な柔軟性と安定性を実現しています。 また、機動性を備えた装置となっており、すばやく移動して設置することができるので、必要なときに必要な場所で解析を行うことができます。

    ParticleSCAN では、試料の調製を簡単にするための圧力可変(VP)技術を併用できます。それによって、製造能力を強化し、ワークフローの改善を実現することができます。

    ParticleSCAN の特長はエネルギー分散X線分光法(EDS)、SmartSEM インタフェースソフトウェア、SmartPI 粒子解析ソフトウェアです。 SmartPI ソフトウェアは自動的に粒子を検出、測定、分類し、サイズや形態、化学組成を記録します。また、わかりやすいレポートの出力も行います。

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  • アプリケーション

    ParticleSCAN VP アプリケーション

    ParticleSCAN には、24 時間 365 日のリアルタイム結果出力動作、自動システムキャリブレーションによる自己診断、自動化ソフトウェアによる人手の最小化といった特長があり、以下のような工業アプリケーションにご利用いただくことができます。

     

    • 製造における清浄度
    • 鉱業
    • 薬剤粉末
    • 環境粒子

     

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  • ダウンロード

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    ParticleScan VP (1 MB)

    SmartPI (1 MB)