Tailored Solutions for Particle Analysis

Configured to Your Requirements

光学顕微鏡像

高速のナノスケール、化学的、相関粒子解析

部品や製造工程の清浄度を監視する作業があります。機械部品は摩擦無く稼働させなければなりません。ひびからの漏れを避け、ノズルやフィルタの目詰まりを削減し、ポンプやバルブの故障を抑えなければなりません。

保守の費用を最小化し、稼働時間を最大化します。

電子顕微鏡像

ZEISS SmartPI

ナノスケールの完全に自動化された粒子解析

電子顕微鏡でフィルタ上の粒子を最大20万個解析し、材料の化学組成についても知ることができます。SmartPI では全てが自動化されています。

光学顕微鏡像と電子顕微鏡像のオーバーレイ（EDX解析含む）

ZEISS Correlative Particle Analysis

相関粒子解析

光学顕微鏡と電子顕微鏡を用いて、最大200個の重要な粒子を測定、解析します。高速で非常に効率的です。粒子のEDS分析のための、この相関粒子解析システムは ISO 16232 と VDA19 をサポートします。

SmartPI

Automated Particle Analysis

SmartPI が化学組成のEDS分析を含むナノメータレンジの粒径解析を自動化境界上の粒子も正確にカウント。EDS と SEM を同じインタフェースで操作様々な評価手法、オフライン解析を用い、測定結果や統計から粒子を取り除くことで、解析のレベルを適切にし、良くまとめられた優れたレポート作成が可能です。

今のシステムを相関粒子解析（correlative particle analysis：CAPA）にアップグレードも可能です。