Particle Analysis Systems ナノスケールと相関解析

Particle Analysis Systems

ナノスケールと相関解析

Tailored Solutions for Particle Analysis

Configured to Your Requirements

光学顕微鏡像

光学顕微鏡像

高速のナノスケール、化学的、相関粒子解析

部品や製造工程の清浄度を監視する作業があります。機械部品は摩擦無く稼働させなければなりません。ひびからの漏れを避け、ノズルやフィルタの目詰まりを削減し、ポンプやバルブの故障を抑えなければなりません。

保守の費用を最小化し、稼働時間を最大化します。

電子顕微鏡像

電子顕微鏡像

ZEISS SmartPI

ナノスケールの完全に自動化された粒子解析

電子顕微鏡でフィルタ上の粒子を最大20万個解析し、材料の化学組成についても知ることができます。SmartPI では全てが自動化されています。

光学顕微鏡像と電子顕微鏡像のオーバーレイ(EDX解析含む)

光学顕微鏡像と電子顕微鏡像のオーバーレイ(EDX解析含む)

ZEISS Correlative Particle Analysis

相関粒子解析

光学顕微鏡と電子顕微鏡を用いて、最大200個の重要な粒子を測定、解析します。高速で非常に効率的です。粒子のEDS分析のための、この相関粒子解析システムは ISO 16232 と VDA19 をサポートします。

 

 

SmartPI

Automated Particle Analysis

SmartPI が化学組成のEDS分析を含むナノメータレンジの粒径解析を自動化境界上の粒子も正確にカウント。EDS と SEM を同じインタフェースで操作様々な評価手法、オフライン解析を用い、測定結果や統計から粒子を取り除くことで、解析のレベルを適切にし、良くまとめられた優れたレポート作成が可能です。

今のシステムを相関粒子解析 (correlative particle analysis:CAPA)にアップグレードも可能です。

ナノスケールの自動粒子解析

  • EVO、SIGMA、MERLIN、ParticleSCAN、JetSCANなどの電子顕微鏡
  • SmartPI ソフトウェア

Correlative Particle Analyzer

高速粒子解析

  • 化学的粒子解析のための高分解能 ZEISS 光学系
  • 最大10倍の速さで結果を取得
  • 光学顕微鏡で反射(金属など)および無反射粒子を大きさで分類し繊維を同定
  • 電子顕微鏡で粒子をリロケートしEDS分析を自動実行
  • 光学顕微鏡と電子顕微鏡の解析結果を1つのレポートに結合
  • 粒子解析の規格 ISO 16232 と VDA19 をサポート

粒子解析

  • 電子顕微鏡 EVO MA 10
  • 電動ズーム顕微鏡 Axio Zoom.V16
  • 相関解析用試料ホルダ
  • AxioVision Correlative Particle Analyzer ソフトウェア

ダウンロード

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

ページ: 41
ファイルサイズ: 4.478 kB

Particle Analyzer

Analyze Tiny Particles: Accurately and Reproducibly

ページ: 19
ファイルサイズ: 6.454 kB

Correlative Particle Analysis

Quickly Characterize and Classify Particles Supporting ISO 16232 by Light and Electron Microscopy

ページ: 17
ファイルサイズ: 3.060 kB