ZEISS Axio Imager 2 for Materials Research

ハイエンド金属顕微鏡

高度な材料研究用顕微鏡システム

ZEISS Axio Imager 2は、品質管理とプロセス管理から、正確で再現可能な画像の提供をお約束します。

優れた光学系と均一な照明が特長のZEISS Axio Imager 2は、コントラストマネージャとライトマネージャにより、いつでも設定条件や再現可能な結果に導きます。

ACRの使用によりZEISS Axio Imager.Z2m の対物レンズとコントラストモジュールを自動的に検出し設定が可能です。4種類の鏡基からシステムを選択し、専用ソリューション(Particle Analyzer, Correlative Microscopy or LSM 900)でアプリケーションを拡張します。

Highlights

Motorized DIC turret
  • 最高のコントラストと分解能のための優れた光学系
  • 幅広い電動およびエンコードコンポーネントを備えたモジュール式鏡基コンセプトによる拡張された柔軟性
  • 安定した鏡基と振動ゼロの作業条件からもたらされる再現可能な結果
  • 共焦点レーザスキャン顕微鏡ZEISS LSM 900 に ZEISS Axio Imager 2をアップグレード
  • 相関顕微鏡のワークフローと粒子分析にZEISS Axio Imager 2 を利用可能
  • 品質管理とプロセス管理時における正確な再現性のための自動化機能

Features

Axioimager 2 MAT - Reflector Turret

Contrasts

研究における幅広い試料の検査が可能
金属構造、合成物、ガラス、樹木、セラミクスを分析します。さらに、ポリマーや液晶の検査も可能です。
幅広い検鏡法から選択し、新たな情報を獲得することができます。反射光を利用し、明視野、暗視野、微分干渉法(DIC)、円偏光微分干渉法(C-DIC)、偏光、蛍光で試料を観察します。また、透過光を利用し、明視野、暗視野、微分干渉(DIC)、偏光、円偏光で試料を観察します。
コントラストマネージャが ZEISS Axio Imager 2 の再現可能な照明設定を保証します。

Axioimager 2 MAT - Ergonomics

Ergonomics

ZEISS Axio Imager 2のモデルとバリエーション
ZEISS Axio Imager.Z2m または M2m がタッチスクリーン上に主要な操作機能を表示、電動式コンポーネントが指一本で楽々コントロールできます。
追加のコントロールボタンが人間工学に基づく設計でフォーカスドライブ周辺に配置、触れるだけで判別できる表面に仕上げました。
ZEISS Axio Imager.D2m にはあらかじめプログラムされたボタンが5個装備されています。Z2m には設定可能なボタンが10個用意されています。

Linkam Heating Stage

Thermomicroscopy

金属、結晶、セラミック、プラスチックに対する熱の影響調査
ZEISS AxioVision と Linkam ヒーティングステージは、過熱実験と冷却実験に対応。一連のタイムラプス中に、温度パターンを文書として記録します。入手結果は、温度ログと、各々のタイムラプス画像中のバキュームデータです。品質管理の分野における例として、加熱または冷却プロセス中の試料の変化を観察します。

Applications

Structure of the surface of a furniture wood Darkfield
Structure of the surface of a furniture wood Darkfield
Liquid-crystalline phase of [C14mim]Br
Liquid-crystalline phase of [C14mim]Br
AlNi3,5 anodized according to Barker © ACCESS e.V. Aachen and Foundry Institute of RWTH Aachen University, Germany
AlNi3,5 anodized according to Barker

Downloads

ZEISS Axio Imager 2

材料解析を自動化する光学顕微鏡システム

ページs: 23
ファイルサイズ: 3071 kB

工業用セラミックス研究のためのZEISS顕微鏡ソリューション

先端セラミックス設計のための2D、3D、4Dソリューション

ページs: 19
ファイルサイズ: 1546 kB

White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

Shuttle & Find

ページs: 6
ファイルサイズ: 1951 kB

White Paper: Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

ページs: 7
ファイルサイズ: 2441 kB

Application Note: Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

ページs: 5
ファイルサイズ: 1244 kB

Applications of Microscopy in Additive Manufacturing

Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems

ページs: 7
ファイルサイズ: 2975 kB

Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

ページs: 6
ファイルサイズ: 1192 kB

White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

ページs: 6
ファイルサイズ: 1755 kB

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

ページs: 41
ファイルサイズ: 4477 kB

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

ページs: 11
ファイルサイズ: 15285 kB

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Additional Downloads

Manual, 210 pages, (10.17MB)

Quick Reference Guide (5.1 MB)

Axio Imager 2