• 最高のコントラストと分解能のための優れた光学系
• 幅広い電動およびエンコードコンポーネントを備えたモジュール式鏡基コンセプトによる拡張された柔軟性
• 安定した鏡基と振動ゼロの作業条件からもたらされる再現可能な結果
• 共焦点レーザスキャン顕微鏡ZEISS LSM 700 に ZEISS Axio Imager 2をアップグレード
• 相関顕微鏡のワークフローと粒子分析にZEISS Axio Imager 2 を利用可能

• 品質管理とプロセス管理時における正確な再現性のための自動化機能
  

金属構造、合成物、ガラス、樹木、セラミクスを分析します。さらに、ポリマーや液晶の検査も可能です。
 
幅広い検鏡法から選択し、新たな情報を獲得することができます。反射光を利用し、明視野、暗視野、微分干渉法（DIC）、円偏光微分干渉法（C-DIC）、偏光、蛍光で試料を観察します。また、透過光を利用し、明視野、暗視野、微分干渉（DIC）、偏光、円偏光で試料を観察します。
 
コントラストマネージャが ZEISS Axio Imager 2 の再現可能な照明設定を保証します。

ZEISS Axio Imager.Z2m または M2m がタッチスクリーン上に主要な操作機能を表示、電動式コンポーネントが指一本で楽々コントロールできます。
 
追加のコントロールボタンが人間工学に基づく設計でフォーカスドライブ周辺に配置、触ってすぐにわかる表面に仕上げました。

ZEISS Axio Imager.D2m にはあらかじめプログラムされたボタンが5個装備されています。Z2m には設定可能なボタンが10個用意されています。

ZEISS AxioVision と Linkam ヒーティングステージは、過熱実験と冷却実験に対応。一連のタイムラプス中に、温度パターンを文書として記録します。入手結果は、温度ログと、各々のタイムラプス画像中のバキュームデータです。品質管理の分野における例として、加熱または冷却プロセス中の試料の変化を観察します。