ZEISS Axio Imager.2 MAT

ZEISS Axio Imager 2

ハイエンド正立金属顕微鏡

ZEISS Axio Imager 2 MAT

高度な材料研究用顕微鏡システム

ZEISS Axio Imager 2 なら、品質管理とプロセス管理から、正確で再現可能な画像をお約束します。


優れた光学系と均一な照明が特長のZEISS Axio Imager 2は、コントラストマネージャとライトマネージャがいつでも設定条件や再現可能な結果をお約束します。

ACRの使用によりZEISS Axio Imager.Z2m の対物レンズとコントラストモジュールを自動的に検出し設定が可能。

4種類の鏡基からシステムを選択し、専用ソリューションでアプリケーションを広げてください。

  • Particle Analyzer
  • 相関顕微鏡
  • ZEISS LSM 700

 

特長

Axio Imager 2 – 製品の特長
  • 最高のコントラストと分解能のための優れた光学系
  • 幅広い電動およびエンコードコンポーネントを備えたモジュール式鏡基コンセプトによる拡張された柔軟性
  • 安定した鏡基と振動ゼロの作業条件からもたらされる再現可能な結果
  • 共焦点レーザスキャン顕微鏡ZEISS LSM 700 に ZEISS Axio Imager 2をアップグレード
  • 相関顕微鏡のワークフローと粒子分析にZEISS Axio Imager 2 を利用可能
  • 品質管理とプロセス管理時における正確な再現性のための自動化機能
Axio Imager 2 – 多用途用

コントラストの選択

研究における幅広い試料の検査が可能

 

金属構造、合成物、ガラス、樹木、セラミクスを分析します。さらに、ポリマーや液晶の検査も可能です。
 
幅広い検鏡法から選択し、新たな情報を獲得することができます。反射光を利用し、明視野、暗視野、微分干渉法(DIC)、円偏光微分干渉法(C-DIC)、偏光、蛍光で試料を観察します。また、透過光を利用し、明視野、暗視野、微分干渉(DIC)、偏光、円偏光で試料を観察します。
 
コントラストマネージャが ZEISS Axio Imager 2 の再現可能な照明設定を保証します。

Axio Imager 2 – 必須項目にフォーカス

多彩な表面構造に柔軟に対応

ZEISS Axio Imager 2のモデルとバリエーション

 

ZEISS Axio Imager.Z2m または M2m がタッチスクリーン上に主要な操作機能を表示、電動式コンポーネントが指一本で楽々コントロールできます。
 
追加のコントロールボタンが人間工学に基づく設計でフォーカスドライブ周辺に配置、触ってすぐにわかる表面に仕上げました。

 

ZEISS Axio Imager.D2m にはあらかじめプログラムされたボタンが5個装備されています。Z2m には設定可能なボタンが10個用意されています。

Linkam加熱ステージー温度変化に柔軟に対応する文書記録

金属、結晶、セラミック、プラスチックに対する熱の影響調査


ZEISS AxioVision と Linkam ヒーティングステージは、過熱実験と冷却実験に対応。一連のタイムラプス中に、温度パターンを文書として記録します。入手結果は、温度ログと、各々のタイムラプス画像中のバキュームデータです。品質管理の分野における例として、加熱または冷却プロセス中の試料の変化を観察します。 

ダウンロード

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

ページ: 41
ファイルサイズ: 4.478 kB

ZEISS Axio Imager 2

Your Open Microscope System for Automated Material Analysis

ページ: 23
ファイルサイズ: 10.447 kB

White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

Shuttle & Find

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.951 kB

White Paper: Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.193 kB

Applications of Microscopy in Additive Manufacturing

Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems

ページ: 7
ファイルサイズ: 2.975 kB

White Paper: Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

ページ: 7
ファイルサイズ: 2.442 kB

White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

ページ: 6
ファイルサイズ: 1.755 kB

Application Note

Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

ページ: 5
ファイルサイズ: 1.245 kB