ソフトウェア
ZEISS SmartPI
Smart Particle Investigator
SEM粒子分析および分類のための自動化されたソリューション
粒子の検出・分析・分類
Smart Particle Investigator(SmartPI)は、高度な粒子分析・分類ソリューションで、走査型電子顕微鏡を産業用クリーンルームや金属・鉄鋼アプリケーションのためのターンキーソリューションへと変えます。SmartPIは、SEMの制御、画像処理、元素分析(EDS)のすべてを1つのアプリケーションに組み込んでいます。
- SEMイメージングとEDS分析の両方を1つのソフトウェアで制御
- 自動運転で無人粒子分析が可能
- 再現可能なデータや、産業規格に準拠したレポートを作成
- SmartPIとZEISS光学顕微鏡の粒子解析ソリューションを組み合わせることで、相関性のあるワークフローを構成可能
- グローバルなZEISSサービスと、システム全体に対するサポートを活用
- SmartPIは清浄度規格ISO 16232、VDA 19に準拠
SmartPIのアプリケーション例
推奨SEMプラットフォーム
EVO走査型電子顕微鏡
EVOは、日常的な材料分析、産業品質保証および不良解析に最適な従来型SEMです。大型電動5軸ステージと使いやすいSmartSEMソフトウェアにより、EVOは粒子解析アプリケーションのための高度に設定可能なイメージングプラットフォームを提供します。EVOには可変圧力(VP)機能があり、導電性コーティングを施すことなく、フィルターなどの非導電性試料のイメージングと分析を可能にします。また、ラマンやFTIRなどを使用したその後の分析用に、フィルターをインタクトな状態で残すことができます。
Sigma電界放出型走査電子顕微鏡
Sigmaは、ナノメートルスケールの粒子分析に高い分解能を必要とするユーザーに最適なSEMです。Geminiカラムテクノロジーを採用したSigmaは、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)による優れたイメージングと分析結果を提供します。Gemini光学系により、元素分析、特に磁性試料の分析に非常に適したプラットフォームで最高レベルの分解能のイメージングが実現します。