ZEISS ZEN Connect

材料研究ラボのマルチモーダルデータをコネクト

相関顕微鏡のレンジを拡大し、スマートなデータ管理を実行

あらゆるソースの画像をオーバーレイ、管理。スケールやイメージングモダリティの違いに関わりなく、試料のさまざまな観察像を融合します。ZEISS ZEN Connect ソフトウェアは、あらゆるイメージング技術を(ZEISS社以外も対応)統合し、研究者の皆様の仕事をサポートします。

  • オーバービュー画像を取得
  • 光学顕微鏡、共焦点顕微鏡、あるいは電子顕微鏡で、どんなソースの画像も一度にアライメント
  • ナビゲーションにオーバービュー画像を使用
  • あるいは、あらゆるソースの画像をアライメント、オーバーレイするために、ZEN Connectをシンプルに使用
  • 最適に構成したプロジェクトにマルチモーダルデータすべてを保存

ZEISS ZEN Connectはお使いのデータを常にコンテキストとともに表示

大学の材料研究室、共通機器施設、あるいは企業の研究室、どんな使用環境でも研究対象に対する確かな見解を得て、効率的に作業を行い、時間を節約することができます。

包括的に試料の特性評価を行いたいとき、さまざまな顕微鏡モダリティやコントラスト技術を組み合わせる必要が生じることは良くあります。

e-モビリティのためのバッテリー研究、あるいはアディティブマニュファクチャリングによるパーツの試作など様々な場面で、石油などの原材料に注目したり、あるいは材料試料に含まれている介在物が金属かどうかを評価したりする、ということがあります。これらのケース、そしてこれ以外の多くのケースで、単一のコントラスト技術あるいは顕微鏡法だけでは、その目的を果たすことはできません。

単一の顕微鏡法よりも、多くの結果をもたらすメリットがあります。

Highlights

Product spectrum for ZEN Connect for Materials

すべての画像をオーバーレイ、アライメント

  • お使いのスマートフォンから、複雑な多次元画像、あるいはシンプルなオーバービュー画像を読み込みます
  • お使いのイメージング技術がZEISS社のものであるか、他社のものであるかは問いません
  • あらゆる画像データをアライメントし、コンテキストとともに表示します
  • ZEISS ZEN Connectは、画像がBio-Formatsに準拠していれば、そのメタデータを保持します
ZEN Connect for Materials - easy navigation

容易なナビゲーションのためのオーバービュー画像取得

  • ZEISSまたはその他のサンプルホルダーに試料をセットします
  • ZEISSの実体顕微鏡または他の低倍率システムで試料をイメージングします
  • 関心領域(ROI)を見つけるために、このオーバービュー画像を使用することができます
  • 解像度およびイメージング技術の違いに関わらず、ズームインおよびズームアウトする際にコンテキスト内のあらゆる連続する画像を見つけることができます
  • オーバービュー画像をクリックするだけでステージが正しい位置に移動し、関心領域(ROI)を確認することができます
ZEN Connect for Materials - smart datamanagement

スマートなデータ管理

  • 画像にはすべて直観的なラベルが自動的に付けられて、データベースプロジェクトに保存されます
  • 実験の間、そしてその後数ヶ月経っても、情報をきちんと把握し続けることができます
  • 画像すべて、およびそこに関連するデーターセットすべてを見つけることができます
  • フィルター機能を使って顕微鏡のタイプやイメージングパラメータを検索することができます

Applications

e-モビリティにおける材料研究

e-モビリティの未来は永久磁石の理解にかかっていると言えます。まずは、オーバービュー画像を取得するところから始めましょう。カー効果顕微鏡で磁区をイメージングし、可能性のある磁気相を特定します。解像度をマイクロメートルからナノメートルスケールに上げて、詳細を確認します。試料の形態と磁気パラメーターの間の相関関係について結論を出します。実験中はずっと、最適な解像度の広視野画像と接続しながら、広範なコンテキストのデータを分析します。

Large-scale overview, acquired with ZEISS Axio Imager
Magnetic domaine structure visualized by Kerr microscopy
Correlated high-resolution image acquired with ZEISS Sigma 300 VP

ZEISS Axio Imagerで画像取得したラージスケールのオーバービュー(上)、カー効果顕微鏡で画像取得した磁区構造(上右)、ZEISS Sigma 300 VPで画像取得した相関する高解像度画像、(下右)。提供:T. Schubert, Aalen University, Germany

カルシウム鋼介在物についての材料研究

カルシウム処理によって、有害な硫化マンガン(MnS)介在物が鋼中に形成するのを防ぐことができます。これらの介在物は圧延の際に伸ばされ、鋼に異方性をもたらす可能性があります。この硫化マンガン介在物を、さらに硬質な硫化カルシウム(CaS)にすれば、これらの介在物は球体にとどまり、鋼の等方性を維持するのに役立ちます。複数の画像を繋ぎ合わせ、試料全体を表す、ラージスケールオーバービュー画像をつくります。大量の介在物を迅速にスクリーニングして同定します。次に、オーバービューから詳細へと移ります。走査型電子顕微鏡(SEM)で高解像度画像を取得します。関心領域に移動し、EDS分析用に特定の介在物を選択します。

Sample Overview and detail of one inclusion (inset) acquired by ZEISS Axio Observer
Higher magnification SEM image (ZEISS Crossbeam 550) and EDS maps of an elongated MnS inclusion
Second sample with Ca treatment SEM image of a globular CaS inclusion and EDS maps

カルシウム処理なしの試料:ZEISS Axio Observerで取得した試料のオーバービュー画像とその中の介在物の詳細画像(挿入画像)(左);倍率を上げた走査型電子顕微鏡画像(ZEISS Crossbeam 550)および圧延で伸ばされたMnS介在物のEDSマップ(中央)。カルシウム処理した試料、球体のCaS介在物の走査型電子顕微鏡(SEM)画像およびEDSマップ(右)。提供:J. ラッセル氏、スウォンジー大学(英国)

石油の回収、核廃棄物の処理、および二酸化炭素の回収および貯留における材料研究

炭酸塩岩の細孔構造を理解し、広範な長さスケールにおける非常に構造的に不均質な、流動、反応、および輸送の特性評価をすると、石油回収、二酸化炭素の回収および貯留、そして核廃棄物の処理に伴う重要な情報に迫ることができます。電動光学顕微鏡を使って広い範囲の画像を取得し、その画像をZEISS ZEN Intellesisにインポートします。ZEN Intellesisで色、テクスチャ、輝度の違いからマクロ細孔、岩石粒、微孔粒を同定し、マクロ構造の完全な分類を行います。これらのデータを使って、高解像度電界放出型走査電子顕微鏡のための関心領域を同定します。マクロの不均質なコンテキストから、ナノメータースケールの細孔構造の詳細までを観察することができます。

マクロ細孔と微孔粒を示すマクロのセグメンテーションのオーバーレイ(左)と、電動光学顕微鏡画像(右)。
マクロ細孔と微孔粒を示すマクロのセグメンテーションのオーバーレイ(左)と、電動光学顕微鏡画像(右)。
高解像度光学顕微鏡のデータと、ナノスケール電子顕微鏡データの相関オーバーレイ
高解像度光学顕微鏡のデータと、ナノスケール電子顕微鏡データの相関オーバーレイ
細孔構造をより詳細に示すセグメンテーション画像(左)と高解像度光学顕微鏡データ(右)のオーバーレイ
細孔構造をより詳細に示すセグメンテーション画像(左)と高解像度光学顕微鏡データ(右)のオーバーレイ
高解像度ナノスケール電子顕微鏡データ
高解像度ナノスケール電子顕微鏡データ

Accessories

ZEISS ZEN Data Storage - Central Data Management in the Connected Laboratory

ZEISS ZEN Data Storage

接続した研究室でデータ管理

デジタル化によって、顕微鏡を用いた検査方法は発展を続けていますが、それに伴って管理するべき画像およびデータの数がますます増加しています。これは特に多人数の研究室で顕著な問題です。ZEISS ZENのデータ保存は、画像およびデータの取得作業とデータ取得後の作業を分離することができ、それによって研究室で働く人すべてに対し、より高い効率性を提供しています。また、共同研究者もデータへのアクセスおよび機能の共有によってメリットがもたらされます。

Correlative Microscopy with ZEISS Shuttle & Find

ZEISS Shuttle & Findによる相関顕微鏡

ZEISS Shuttle & Findソフトウェアモジュールの使いやすく効率的なワークフローによって、光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡のデータをオーバーレイすることができます。基準マーカー付きのサンプルホルダを使って数秒でシステムの座標を合わせることができます。光学顕微鏡で試料の関心領域を決定、電子顕微鏡でその関心領域に移動し、高解像度イメージングおよび分析を行います。最終的には、異なった顕微鏡技術を用いて取得された画像を相関させます。

ZEISS Shuttle & Findによる相関顕微鏡

ZEISS ZEN Intellesis for Image Segmentation in Microscopy

ZEISS ZEN Intellesisによる、顕微鏡画像のセグメンテーション

深層学習の力を利用して、画像のセグメンテーションを容易に行い、これらが提供するデータの真の価値を知ることができます。画像のセグメンテーションが、後に続くあらゆる画像解析ステップの基礎となります。ZEISS ZEN Intellesisは深層学習とPythonを用いており、これによって専門家ではなくても、再現性の高いセグメンテーション結果を容易に得ることができます。一度ソフトウェアをトレーニングしてしまえば、ZEISS ZEN Intellesisを用いて、何百もの画像データを自動でセグメンテーション。時間を節約し、オペレーターのバイアスを最小化することができます。

ZEISS ZEN Intellesisによる、顕微鏡画像のセグメンテーション

Download

ZEISS ZEN Connect

Overlay and Organize Images From Any Source to Connect Your Multimodal Data in Materials Research

15 Pages
Filesize: 5,863 kB

ZEISS ZEN Connect (Italian Version)

Sovrapposizione e organizzazione di immagini provenienti da fonti diverse per connettere i vostri dati multimodali all'analisi dei materiali

15 Pages
Filesize: 3,234 kB

ZEISS ZEN Connect

Overlay and Organize Images From Any Source to Connect Your Multimodal Data in Materials Research

2 Pages
Filesize: 2,828 kB

ZEISS ZEN Data Storage for Materials Science

Database for Your Efficiency in the Multi User Laboratory

2 Pages
Filesize: 2,255 kB

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ZEISS ZEN Connect Software

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