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ZEISS Sigma
Field Emission Scanning Electron Microscope
ZEISS Sigma Family
高画質イメージングと高度な顕微鏡解析
ZEISS Sigma 300 はコストパフォーマンスに優れています。また、ZEISS Sigma 500 ではクラス最高のEDS geometry で、簡単に高速に元素分析が可能。試料を選ばず、いつでも正確に再現性のある結果が得られます。
フレキシブルな検出、4ステップワークフロー、高度な解析
フィールドエミッションSEM(FE‐SEM)のテクノロジーに高度な解析。実績ある Gemini 電子光学系を搭載しています。
様々なオプションが選択できる検出器では、粒子、表面、ナノ構造のイメージングが可能です。また、セミオートの4ステップのワークフローで時間を節約できるため、 イメージングと解析のルーチンを構成して生産性が向上します。
Highlights


Gain information on topography and composition in a single detector.
Solar cell, imaged with aBSD at 5 kV and high vacuum.
フレキシブルな検出でクリアな画像
- 最新の検出テクノロジーでニーズに合わせて Sigma をカスタマイズし、試料の特性を評価
- Characterize composition, crystallography and surface topography with the annular backscatter detector (aBSD). It delivers excellent low kV images under all vacuum conditions. Benefit from improved sensitivity, increased signal-to-noise ratio, and more speed.
- 新世代の二次電子(SE)検出器:50%以上のシグナルで画像を撮影。圧力可変モードで有効な Sigma の新しい C2D および VPSE 検出器: 低真空で85%以上コントラストが向上したクリアな画像を取得

ワークフローを自動化しスピードアップ
- 4ステップのワークフローで Sigma の全ての機能を制御。 素早いイメージングで、マルチユーザ環境でもトレーニング時間を節約
- 試料を俯瞰して最適なイメージング条件をセット
- 関心領域(ROI)を活用して複数の試料を自動イメージング
- ワークフローの最後のステップで試料の情報を可視化

顕微鏡による高度な解析
- 走査型電子顕微鏡と元素分析を統合: Sigma のクラス最高のEDS geometry は、ビーム感受性の高い試料に対して特に分析の生産性を向上
- 解析データを従来の半分のプローブ電流、半分の時間で取得
- 完璧でムラの無い解析をするFE-SEM。 完璧でムラの無い解析をするFE-SEM解析の作動距離は8.5 mmと短く、作動角度は35°
Technology

実績あるGeminiテクノロジー
- Gemini の対物レンズ設計は、静電場と磁場の組合わせで、試料に与える場の影響を最小に抑えつつ、光学性能を最大限引き出すことにより、磁性材料などの難しい試料での優れたイメージングが可能
- Gemini インレンズ検出は二次電子(SE)と後方散乱電子(BSE)を検出することで、最短かつ効率的なシグナル検出が可能
- Gemini のビームブースターテクノロジーが小さいプローブと高いS/N比を保証

フレキシブルな検出でクリアな画像
- 最新の検出テクノロジーであらゆる試料を分析
- 高真空モードのためのETSEおよびインレンズ検出器により、表面形状の情報を高分解能で取得
- VPSEあるいはC2D検出器により、圧力可変モードで高コントラスト画像を取得
- aSTEM 検出器で高分解能の透過像を取得
- Investigate composition and topography with the aBSD detector.
- Align the aperture fast and easy with the new auto-wobble.
Applications
Materials Science






Life Sciences




Geosciences & Natural Resources




Industrial Applications



Accessories
SmartEDX
Discover Embedded Energy Dispersive X-ray Spectroscopy Analysis

- Optimization for routine microanalysis applications and detection of low energy X-rays from light elements thanks to superior transmissivity of the silicon nitride window
- Workflow-guided graphical user interface improves ease-of-use and repeatability in multi-user environments
- Total service and system support by a ZEISS engineer is giving you a one-stop-shop for installation, preventive maintenance and warranty
Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy
Reap the Benefits of Fully Integrated RISE

- Recognize molecular and crystallographic information
- Perform 3D analysis and correlate SEM imaging, with Raman mapping and EDS data if appropriate
- Fully integrated RISE lets you take advantage of both best-in-class SEM and Raman systems
Software

ZEISS SmartSEM Touch - Get more Hands on Deck
SmartSEM Touch, an add-on to the established operation system, is a simplified user-interface for multi-user environments. It comes with easy operation for both experienced and novice users. Depending on the actual laboratory environment, operation of the SEM can be the exclusive domain of expert electron microscopists. But this situation is challenged by the very common necessity that non-expert users, such as students, trainees, or quality engineers, also require data from the SEM. Sigma 300 and Sigma 300 VP take both requirements into account, with user interface options that cater to the operational needs of experienced microscopists as well as non-microscopists.

ZEISS Atlas 5 – Master Your Multi-scale Challenge
Atlas 5 makes your life easier: create comprehensive multi-scale, multi-modal images with a sample-centric correlative environment. Atlas 5 is the powerful yet intuitive hardware and software package that extends the capacity of your scanning electron microscope.
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3D Surface Modelling – 3DSM
Your scanning electron microscope measures and analyzes all kinds of samples in 2D: to analyze the surfaces of samples in 3D, use 3DSM, the optional software package from ZEISS. Get topographical information by reconstructing a complete 3D model of your sample’s surface using the signals of backscatter detectors.
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Visualization and Analysis Software
ZEISS recommends Dragonfly Pro from Object Research Systems (ORS)
An advanced analysis and visualization software solution for your 3D data acquired by a variety of technologies including X-ray, FIB-SEM, SEM and helium ion microscopy.
Available exclusively through ZEISS, ORS Dragonfly Pro offers an intuitive, complete, and customizable toolkit for visualization and analysis of large 3D grayscale data. Dragonfly Pro allows for navigation, annotation, creation of media files, including video production, of your 3D data. Perform image processing, segmentation, and object analysis to quantify your results.

ZEISS Mineralogic - Automated Mineralogy
Phase identification and textural analysis in 2D and 3D using ZEISS SEM, XRM, and microCT systems.
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Downloads
ZEISS Sigma 300 with RISE
Extend your ZEISS Sigma 300 with Fully Integrated Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE)
ページ: 2
ファイルサイズ: 2075 kB
ZEISS SmartEDX
The ZEISS Embedded EDS Solution for Your Routine SEM Microanalysis Applications
ページ: 10
ファイルサイズ: 2160 kB
工業用セラミックス研究のためのZEISS顕微鏡ソリューション
先端セラミックス設計のための2D、3D、4Dソリューション
ページ: 19
ファイルサイズ: 1546 kB
ZEISS FE-SEM用in situラボ
材料の性能を微細構造と関連付ける
ページ: 8
ファイルサイズ: 12371 kB
ZEISS Sigma Family - Flyer
Your FE-SEMs for High Quality Imaging & Advanced Analytical Microscopy
ページ: 2
ファイルサイズ: 2146 kB
ZEISS Sigma 300 with WITec Confocal Raman Imaging
Characterizing Structural and Electronic Properties of 2D Materials Using RISE Correlative Microscopy
ページ: 10
ファイルサイズ: 6581 kB
ZEISS Sense BSD
高速で試料ダメージが少ない微細構造 イメージングのための後方散乱電子検出器
ページ: 6
ファイルサイズ: 13655 kB
Application Note:
Cathodoluminescence of Geological Samples: Fluorite Veins
ページ: 5
ファイルサイズ: 5476 kB
Case Study
Corrosion analysis of modern and historic railway trackwith optical, electron and correlative Raman microscopy
ページ: 10
ファイルサイズ: 7630 kB
White Paper: ZEISS Sigma 300
Quantitative EBSD Studies of Soft Magnetic Composites
ページ: 8
ファイルサイズ: 10255 kB
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