ZEISS Xradia 410 Versa

Your Workhorse Solution for 3D Submicron Imaging

ZEISS Xradia 410 Versa

ラボでの非破壊サブミクロン顕微鏡のギャップを埋める

Xradia 410 Versaは、高性能なX線顕微鏡と従来のコンピュータートモグラフィ(CT)システムとのギャップを埋めます。業界最高水準の分解能、コントラスト、in situ機能による非破壊3Dイメージングが可能な Xradia 410 Versa は、最も広範囲な試料サイズに対する画期的な研究を実現します。この強力で費用対効果の高い"主力"ソリューションによるイメージングワークフローは、多様なラボ環境でも拡張できます。

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Highlights

Industry-leading 4D and In Situ Capabilities for Flexible Sample Sizes and Types

Xradia 410 Versa X線顕微鏡は費用対効果が高く、柔軟な3Dイメージングを行うことができ、幅広いアプリケーション(試料)と研究環境に対応します。非破壊X線イメージングでは貴重な試料を保存し、長期間にわたり使用することができます。この顕微鏡の実質的な空間分解能は0.9 μm、最小達成可能ボクセルサイズは100 nmです。柔らかい材料や低Z材料での高度な吸収コントラストと位相コントラストによって実現される多用途性により、従来のコンピュータートモグラフィ(CT)のアプローチの制限を克服できます。

Xradia Versaソリューションは、投影によるマイクロ/ナノCTシステムの限界を超えて科学研究を拡張します。従来のトモグラフィは単一ステージの幾何学な拡大に依存しているのに対し、Xradia 410 Versaはシンクロトロン 口径の光学系に基づく独自の2ステージプロセスを採用しています。このため、使いやすく、柔軟なコントラストを得られます。画期的なRaaD(Resolution at a Distance)により、自然環境内およびさまざまな in situ装置内の幅広い試料サイズにおいて、サブミクロンの分解能を維持できます。非破壊のマルチレングススケール機能により、同じ試料を幅広い倍率でイメージングすることができ、材料の微細構造の形成を連続処理(4D)で独自に特性評価したり、シミュレートされた環境条件(in situ)に基づいて評価が可能です。

また、Scout-and-Scan制御システムでは、レシピベースの設定を利用して、さまざまな経験レベルのユーザーが簡単にXradia 410 Versaを使用できる効率的なワークフロー環境を実現します。

Benefits

Xradia Versaアーキテクチャは2ステージの拡大技術を採用しており、RaaD (Resolution at a Distance)を独自に実現できます。従来のマイクロCTと同様に、幾何学的な拡大を使用して試料イメージを拡大します。第2段階で、シンチレータによってX線が可視光に変換され、その情報を光学的に拡大します。幾何学的な拡大への依存度を減らすことにより、長い作動距離でも Xradia Versa 顕微鏡のサブミクロン分解能を維持することができます。これにより、 in-situ チャンバにおいて広範なサイズの試料を効率的な研究が可能になります。

  • 非破壊3Dイメージングにより、貴重な試料を保存し、長期間にわたり使用可能
  • 0.9 µmの高い空間分解能および100 nmのボクセルサイズ
  • 低Z材料や軟組織に対する高度なコントラストソリューション
  • 試料サイズおよびタイプに柔軟に対応できる、業界トップクラスの4Dおよび in-situ 機能
  • Scout-and-Scan™制御システムの使いやすいワークフロー設定により、複数ユーザー環境に最適
  • 高荷重に耐えられる試料ステージと長距離の移動が可能なソースステージ、および検出器ステージ
  • 試料準備の必要性が最小限
  • 複数倍率の検出器システムによりナビゲーションが容易
  • 自動化された複数点トモグラフィと繰り返しスキャンによる連続操作
  • 高速な再構築
  • オプションのVersa In Situキットで環境室をサポートする設備(配線や配管など)を構成し、in-situ アプリケーションで最高の3D分解能を提供しながら、最大限のイメージング性能と簡単な設定を実現
  • オートローダーオプションを利用して、最大14個の試料の操作をプログラミングして同時に実行し、生産性を最大化するとともに大量スキャンのワークフローを自動化
Accessories

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Application Examples

ZEISS Xradia 410 Versa

材料研究
微細構造の形成を3Dおよび4D (時間ベース)でイメージングおよび定量化します。RaaDでは、 in-situ 装置内でのイメージングにおいてさまざまなタイプやサイズの材料で、試料の深内部領域を含めて分解能を維持できます。
 
原材料
孔隙率と極小な岩石構造の特性評価や定量化により、岩石の細孔ネットワークの最高精度の3Dサブミクロン特性評価が可能で、「デジタル岩石」シミュレーションや in-situ の多相流体研究に利用できます。セラミクス、金属、建築材料における亀裂の拡大をX線による視覚化で理解が可能。比較的大型の試料の in-situ における3次元微細構造解析を定量的、高分解能で行います。
 
生命科学
高分解能で試料の特性を評価し、発生生物学、バーチャルヒストロジー、神経回路網のマッピングに利用が可能 。高コントラストの検出器と位相差イメージングにより、今までにない細胞レベルの詳細を取得できます。
 
エレクトロニクス
不具合や微細構造の詳細を3Dでイメージングし、試料を損傷せずに任意の場所を調べ、非破壊で大きな基板の断面を仮想的に取得したり、高度な3Dパッケージングを実行できます。Xradia Versaは物理的なセクショニング方法の補完または代替となる、最も高分解能の工業用非破壊3Dサブミクロンイメージングソリューションを提供します。

3-phase Ottawa Wet Sand
3-phase Ottawa Wet Sand
Thermal Barrier Coating
Thermal Barrier Coating
Intact Mouse Knee
Intact Mouse Knee
Intact Electronics Package
Intact Electronics Package

Downloads

ZEISS Xradia 410 Versa

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