ZEISS Xradia 510 Versa

Your 3D Submicron Imaging System with Breakthrough Flexibility

ZEISS Xradia 510 Versa

ソースから数ミリメートルまたは数インチの長い作動距離も可能な多用途性

ZEISS Xradia 510 Versa 3D X線顕微鏡(XRM)で、新たなレベルの発見を実現。
ZEISS独自のRaaD (Resolution at a Distance)機能が、数ミリメートルから数センチメートルサイズの試料において、分解能1ミクロンの壁を突破します。世界トップクラスの分解能およびコントラストと作業距離の柔軟性という強力な組み合わせを利用して、ラボ内の非破壊イメージングの能力を向上できます。

Highlights

 
  • 非破壊3Dイメージングにより、貴重な試料を保存し、長期間にわたり使用可能
  • 独自の Versa 顕微鏡設計により、 in-situ と大型試料のイメージングの前提条件であるソースからの最大作動距離での最高分解能を実現
  • 幅広い倍率、0.7 µm未満の正味空間分解能、70 nm未満のボクセルサイズによる、同一試料のマルチレングススケールイメージング
  • 業界トップクラスの4Dおよび in-situ 機能によりさまざまなin- situ装置をサポートし、実用的なサイズの試料(数ミリメートルから数インチ)のサブミクロンイメージングが可能。重さ25 kg、サイズ300 nmまでの試料に対応
  • デュアルステージ拡大による独自のアーキテクチャにより、複数の倍率検出システムを容易に操作でき、複数点トモグラフィと繰り返しスキャンによる連続操作、高速再構成を実現
  • 柔らかい材料や低Z材料での高度な吸収コントラストと位相コントラスト
  • Scout-and-Scan™ 制御システムの使いやすいワークフロー設定により、複数ユーザー環境に最適
  • オプションのVersa In Situキットで環境室をサポートする設備(配線や配管など)を構成し、最大限のイメージング性能と設定のしやすさを実現
  • オートローダーオプションを利用して、最大14個の試料の操作をプログラミングして同時に実行し、生産性を最大化するとともに大量スキャンのワークフローを自動化

Application Examples

ZEISS Xradia 510 Versa

Materials Research

Typical tasks and applications
 

材料研究能力を向上します。柔らかい複合材料の亀裂の可視化から鉄鋼の孔隙率の測定まで1つのシステムですべて行うことができます。引張、圧縮、ガス、酸化、湿度、温度などが異なるさまざまな条件下でのイメージングにより、 in situ研究を実行できます。真空および荷電粒子ビームに不適合な素材をイメージングすることもできます。

Xradia 510 Versaでは、光学顕微鏡、SEM、AFMなどの2D表面イメージングでは観察することができない、深部に埋まった微細構造まで観察できます。 in situイメージングでは分解能を維持できるので、さまざまな in situ装置を利用し、各種のサイズおよび形状の試料を研究できます。X線の非破壊性を利用し、これらの条件を経時的に変化させて影響を調べることができます。

Porous Polymer with Fluid Flow
Very soft porous polymer with urethane backbone. High contrast imaging of low Z materials in situ with varying temperatures and compression. Simulation of fluid flow demonstrates absolutely the permeability of the sample.

Application Video

Sintered Powder Steel

Non-destructive 3D imaging is crucial for additive manufacturing development. A powder stainless steel sample was laser-sintered and imaged by ZEISS Xradia 520 Versa. From the 3D dataset, the non-sintered solid phase was virtually segmented and volume quantified. XRM also provides ability to do interior tomography and look at virtual cross-sections without damage to the sample. Sample courtesy of NIST.

Life Sciences

Typical tasks and applications
 

高分解能および高コントラストを活用して、無染色/染色の硬組織/軟組織を調べることができます。骨形態学における骨組織の特性の定量化、神経回路網のマッピング、血管系の研究、バイオ構造の発達の理解に利用できます。

Mite on Spider in Amber
Mite on Spider in Amber

Raw Materials

Typical tasks and applications
 

細孔の構造と連結を解析し定量化し、孔隙率および透過性の確認、鉱物遊離効果の分析、炭素隔離の有効性の調査を行います。 in-situ 多相流体研究を実施できます。様々な環境下での材料への効果を研究することで、微細構造の特性評価が極めて正確にサブミクロン精度で3Dおよび4D(時間)で可能です。

Shale with Pore Connectivity
Shale with Pore Connectivity

Electronics

Typical tasks and applications
 

プロセスを最適化し、不具合を分析します。無傷のパッケージの非破壊サブミクロンイメージングを利用して、欠陥の位置測定と評価を行うことができます。内部の特性を3次元で測定できます。Xradia Versaは物理的なセクショニング方法の補完または代替となる、最も高分解能の工業用非破壊3Dサブミクロンイメージングソリューションを提供します。

Package-on-Package Assembly
Package-on-Package Assembly

Accessories

Autoloader

Increase your sample handling efficiency

Autoloader option enables you to program up to 70 samples at a time to run sequentially.
Autoloader option enables you to program up to 70 samples at a time to run sequentially.

Maximize your instrument's utilization with the optional Autoloader, available for all instruments in the ZEISS Xradia Versa series. Reduce the frequency of user interaction and increase productivity by queueing multiple jobs. Load up to 14 sample stations, which can support up to 70 samples, and set to run overnight, or across multiple days. Unprecedented mechanical stability enables high volume quantitative repetitive scanning of like samples.

Wide Field Mode

Flexibly image larger samples

Image large samples with Wide Field Mode such as this 6” stereo speaker.
Image large samples with Wide Field Mode such as this 6” stereo speaker.

Wide Field Mode (WFM) can be used to image across an extended lateral field of view. The wide lateral field of view can provide 3x larger 3D volume for large samples, or give a higher voxel density for a standard field of view. All Xradia Versa systems are capable of WFM with the 0.4x objective. The Xradia 620 Versa system also features WFM with the 4x objective. In combination with Vertical Stitching, WFM enables you to image larger samples at exceptional resolution.

Software

Simple Control System を使って効率的なワークフローを構築

関心領域を簡単に見つけ出し、Scout-and-Scan Control System 内でスキャンパラメータを指定します。ユーザーの多い共通設備では、使いやすいシステムがメリットを発揮します。

さまざまなメリット:

  • 試料観察用内部カメラ
  • レシピ管理(セット、保存、呼び出し)
  • マルチエネルギー
  • オートローダーオプションを用いた多サンプル処理
  • マウスクリックするだけのマイクロポジショニング機能
Scout-and-Scan Control System
Scout-and-Scan Control System
Lithium-ion Battery
Lithium-ion Battery

Visualization and Analysis Software

ZEISSがお勧めするビジュアリゼーション&解析ソフトウェア Dragonfly Pro (Object Research Systems /ORS製)
X線、FIB-SEM、SEM、およびヘリウムイオン顕微鏡検査などを含む、さまざまなテクノロジーを用いて取得された 3D データのための、分析およびビジュアリゼーション向け上級ソフトウェアです。
Visual SI Advanced の後継である Dragonfly Pro は、鮮明度の高いビジュアリゼーション技術および業界をリードするグラフィックを提供します。Dragonfly Pro は、使いやすい Python scripting を用いたカスタマイズに対応。これによってユーザーは、その3Dデータの後処理環境およびワークフローを完璧にコントロールすることができます。

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Downloads

ZEISS Xradia 510 Versa

Submicron X-ray Imaging: Maintain High Resolution Even at Large Working Distances

ページs: 25
ファイルサイズ: 13749 kB

ZEISS ORS Dragonfly

Outstanding 3D visualization with best-in-class graphics

ページs: 2
ファイルサイズ: 689 kB

ZEISS Xradia Versa with FPX

Larger samples, higher throughput

ページs: 2
ファイルサイズ: 1729 kB

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