材料科学の未来を築く

ZEISS Microscopy Solutionsは明日の材料設計を可能にします

材料研究にZEISS Microscopy Solutionsをご活用ください。将来の材料が、より軽く、より速く、より強く、よりスマートで、より耐久性のあることが要求されるため、エンジニアリングイノベーションでは、今まで以上に複雑な材料を理解することが必要になります。つまり、加工と構造や特性と性能を結びつけるための特性評価技術が求められるのです。

加工と構造や特性と性能を結びつけるという課題を解決します。

材料研究において興味のある分野を詳しく研究し、結晶構造とサイズ、集合組織、相と相転移、体積分率、介在物、不純物分布などの特徴を明らかにします。

  • 次世代エンジニアリング素材での可能性を拡張
  • モビリティとサステナビリティのためのエネルギー装置の開発
  • ナノ材料を用いた電源の微細化技術
  • ポリマー、触媒、コーティング、および化学物質などの軟質材料の研究、それらの特性をより深く理解、または自然界から学ぶバイオマテリアルの研究

学術や産業のどちらでの研究においても、材料科学や材料工学の進歩に貢献します。ZEISSシステムは、お客様が必要とするすべてのデータを提供するように設計されています。

  • 包括的なワークフローソリューションを使用して、結果を迅速に取得し、マルチモーダル、マルチスケールの顕微鏡検査を実行
  • 2Dから3D、4Dまでのサンプルを解析
  • 低解像度の光学顕微鏡または実体顕微鏡から始め、次に高解像度のSEMを使用
  • X線顕微鏡またはFIB-SEMを使用して3次元を切り開く
  • EDS、EBSD、ラボ用回折コントラスト・トモグラフィー、in situ引張または加熱実験により、化学組成、結晶方位、または機械的特性の分析
  • 相関実験のためのソフトウェアソリューションをデータと関連付けて分析することにより、機械学習による画像セグメンテーションを利用したデータ処理が可能

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Tutorials

Basic concepts in microscopy
Through various sections, learn more about the principles of microscopy and get detailed advice and comments on how to use the different methods with your microscope. For instance, start with the concepts of image formation, numerical aperture and the Köhler illumination.

How the Microscope Forms Images

Optical microscopes belong to a class of instruments that are said to be diffraction limited, meaning that resolution is determined in part by the number of diffraction orders created by the specimen that can be successfully captured by the objective and imaged by the optical system.

Basic Microscopy

Köhler Illumination

Illumination of the specimen is the most important variable in achieving high-quality images in microscopy and critical photomicrography. Köhler illumination was first introduced in 1893 by August Köhler of the Carl Zeiss corporation as a method of providing the optimum specimen illumination.

Achieving High-Quality Images

Numerical Aperture and Resolution

The numerical aperture of a microscope objective is the measure of its ability to gather light and to resolve fine specimen detail while working at a fixed object (or specimen) distance. Resolution is determined by the number of diffracted wavefront orders captured by the objective.

Resolve Fine Specimen Detail