X線顕微鏡ウェビナーシリーズ

オンデマンドウェビナー

X線顕微鏡（XRM）は、3Dおよび4Dでの高度な非破壊マルチスケール材料特性評価において「必須アイテム」となりつつあります。
ZEISS Xradia Versaは、非破壊サブミクロンスケールイメージングの可能性を広げる、業界最高の解像度とコントラストを備えた汎用性の高いプラットフォームです。
本ウェビナーシリーズでは、ZEISS Xradia Versaとその機能、そしてXRMをさまざまなアプリケーションやワークフローでどのように活用できるかをご紹介します。また、深部に隠された構造にアクセスするためのZEISS LaserFIB、4D in-situ実験、結晶学的イメージングのためのDiffraction Contrast Tomographyを含む様々なワークフローを紹介します。
そして、電池、エレクトロニクス、セラミックス、アディティブマニュファクチャリング、金属、合金などの分野におけるアプリケーション事例を紹介します。

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ウェビナー 1

ZEISS Xradia Versaを使用した3Dおよび4Dイメージングの概要

X線源と光学系における画期的な技術革新により、研究室での3Dおよび4D非破壊X線イメージングの可能性の限界が広がりました。ZEISS Xradia Versaは、従来のマイクロCTシステムを凌駕する「X線顕微鏡」（XRM）です。独自の2段拡大光学系と高出力光源の組み合わせにより、幅広いサンプルサイズにおいてサブミクロンレベルの高速イメージングを実現します。

本ウェビナーでは、エレクトロニクス、材料科学、ライフサイエンスの各分野におけるアプリケーションを例に、Xradia Versaのテクノロジーとその利点をご紹介します。

主な内容
・X線顕微鏡（XRM）のコンセプト
・3D非破壊X線イメージングにおいて、XRMが提供するサンプルサイズ、解像度、コントラスト、スループットの利点
・XRMが対応可能なアプリケーション（in-situ試験、複合材料、電池、積層造形など）

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ウェビナー 2

"Resolution at a Distance"(RaaD)機構：サンプルサイズに依存した分解能の制限を克服

X線顕微鏡と "Resolution at a Distance"（RaaD）がマイクロCTのサンプルサイズと解像度の限界を克服する方法
非破壊3D技術は、研究者が利用できる性能を飛躍的に向上させました。
これらのマイクロCTやX線顕微鏡技術により、研究者は3次元形状とその内部構造を評価することができます。
しかし、従来のマイクロCT技術では、「マルチスケール」サンプルを画像化しようとすると限界があります。
マルチスケールサンプルは通常、長さスケール（例えば、マクロ、マイクロ、ナノメートル）にわたって重要な性質を表します。

このウェビナーでは、「マルチスケール」問題を定義し、マイクロCTの限界が、試料サイズが大きくなると一般的に分解能が低下することを意味することを説明します。
また、ZEISS Xradia VersaのユニークなResolution at a Distance (RaaD)機能の利点についても概説します。

RaaD機能により、大きな3Dサンプルの深部から高解像度のスキャンを取得できる「内部トモグラフィ」が可能になり、マイクロCTに関連するマルチスケープ問題を克服することができます。

主な内容
・材料科学におけるマルチスケール問題と、これが非破壊3Dイメージングにもたらす課題
・Resolution at a Distanceの概念と、それがどのようにマルチスケール（サンプルサイズ対分解能）問題を克服するか
・ZEISS Xradia VersaのRaaD機能で対応可能な材料科学分野でのアプリケーション

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ウェビナー 3

多結晶材料の結晶イメージングにおけるX線顕微鏡法の進歩～独立型回折コントラストトモグラフィ～

3次元非破壊イメージング用のX線トモグラフィは広く採用されており、 2つの主要なコントラストメカニズム（ X線吸収と位相コントラスト）の下で運用されています。これらのコントラストメカニズムは、いずれも材料の密度差に依存しています。しかし、多結晶材料（金属や合金、セラミックスなど）をイメージングする場合、これらのコントラストメカニズムは効果を発揮しません。20 年間かけて、放射光を利用した回折コントラストトモグラフィー（DCT）法は、この課題を克服し、多結晶材料の回折信号を利用した「結晶学的コントラスト」を提供することができるようになりました。

本ウェビナーでは、回折コントラストトモグラフィー（DCT）法の概要と、ラボベースのDCTシステムでどのように利用できるかをご紹介します。大量の試料を前例のないスケールで調査することで、真の試料再現性を達成するという課題に取り組む回折スキャンモードの最新の進歩を探ります。

さらに、金属、セラミックス、地質材料など、さまざまな材料における超大容量グレインマッピングの応用例を紹介します。

最後に、X線顕微鏡、非破壊グレインマッピングと高分解能走査型電子顕微鏡を組み合わせたユニークな相関ワークフローを紹介し、マルチスケールの材料微細構造に対する貴重な知見を得る。

主な内容
・回折コントラストトモグラフィ（DCT）技術をラボベースの装置で使用できることの理解
・真のサンプル評価の重要性、新しい非破壊手法とこの重要な課題にどう対処するかの理解
・破壊・非破壊アプローチをどう組み合わせれば、材料科学サンプルのユニークな知見が得られるか

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ウェビナー 4

相関顕微鏡～顕微鏡の境界を越えて、業界最良の結果を達成～

サンプルの本質を捉えるには、たいてい複数の方法で分析する必要があります。マイクロスケールからナノスケールへ移行するには、光学顕微鏡と電子顕微鏡、またはX線顕微鏡とFIB-SEMを相関させる必要があります。ZEISSの相関顕微鏡は、統合されたソリューションとシームレスなワークフローを提供します。光学、電子、イオン、X線顕微鏡の唯一のプロバイダーであるZEISSをお選びいただくことで、相関分析における長年の経験を活用することができます。画像とデータのユニークなサンプル中心相関を選択することで、単一の顕微鏡技術の限界を超えて作業を進めることができます。

主な学び

材料科学で直面するマルチスケールの課題と、複数の長さスケール（mmからnm）を橋渡しできるワークフローの必要性
ZEISSのX線顕微鏡（XRM）からLaserFIBへのワークフローと、深部の微細構造の特定
このワークフローを適用できる多くのアプリケーション（バッテリー、エレクトロニクス、金属など）例

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