卓越したCT画像品質の実現
ZEISS scatterControl
画像品質を最適化するハードウェアソリューション
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ZEISS scatterControlモジュールは、CTスキャンの画質を大幅に向上させ、散乱線アーチファクトを最小限に抑えます。この改善により、その後のデータ処理と対象製品の評価ステップが容易になり、さらに正確な面定義と欠陥解析を実現します。本製品は、金属積層造形部品やアルミ鋳造製品、さらに高密度な素材を含んだアセンブリ製品など、体積が大きく高密度な製品に最適です。
本製品は、ZEISS METROTOM 1500 225kV G3への後付け、または新規装置購入時のオプションとしてご利用いただけます。是非ZEISS scatterControlで装置をアップグレードし、優れた画質でより簡単にデータを評価できるようにしてみませんか。
ZEISS scatterControlによるベネフィット
画像品質・欠陥検出能力の向上
ZEISS scatterControlは、散乱線によるアーチファクトの発生を抑制し、CT画像の品質を大幅に向上させます。異なるコンポーネント間のコントラストが向上し、欠陥検出が簡素化され、以前はほとんど評価できなかった部品の領域が評価できるようになりました。
面定義の向上
ZEISS scatterControlは、欠陥検出だけでなく、面定義の品質にもメリットをもたらします。アーチファクトが面定義プロセスに影響を与えるような、難しい製品の計測用途において大きな利点となります。
VASTモードによる高速スキャン
ZEISS scatterControlは、「Stop and Go」と「VAST」の両方のスキャンモードで動作します。scatterControlにより、コーンビームCTでもファンビームCTの画質に匹敵する優れた画質を提供できる上に、スキャン時間は最大1000倍も速くなります。
簡単な操作
ZEISS scatterControlは、ワンクリックで操作できるソリューションです。VHD（水平方向拡張機能）、AMMAR（マルチマテリアル補正機能）またはボリューム結合などのMETROTOM OSの便利な機能とシームレスに動作し、ソフトウェアに完全に一体化しています。
ZEISS scatterControlでより良い欠陥解析を実現
ZEISSのscatterControlは、さまざまな製品や業界においてCTスキャンの画質を大幅に向上させることができます。効果的なアーチファクト除去からワークに対するモジュールの位置決めまで、ZEISS scatterControlが最適な選択であることには明確な理由があります。優れた欠陥検出と解析に、このモジュールをどのように使用できるか、以下でご紹介いたします。
アーチファクト削減によりCT画像品質を向上
ZEISS scatterControlは明確な違いを生み出します。スライダーを使用して、scatterControlモジュールの有無によるX線画質を比較してみてください。改善後の画像は、コントラストが高く、アーチファクトが少ないため、細部がより鮮明に浮かび上がっています。
モジュール配置による優れた品質
ZEISS scatterControlは、モジュールの動作原理により、類似製品と比較して優れた品質を実現しています。このモジュールは、X線管とディテクタの間に配置されます。高密度のアディティブマニュファクチャリング製品のような小さな対象物はモジュールの前に、大きな対象物は後ろに配置することができ、どちらにも対応可能です。さらに、内蔵の物理的衝突センサーと高度な衝突予測ソフトウェアにより、衝突を防止することができます。
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さまざまな製品や業界に最適
- 鋳造： アルミニウムやマグネシウムの巨大製品
- 自動車： 鋳造品、パワーエレクトロニクス
- アディティブマニュファクチャリング： 高密度な金属3Dプリント製品
3次元検査の向上
ボリュームデータの改善により、評価がより簡単になりました。アーチファクトを気にすることなく、3Dサーフェスを判定し表示させることができます。アーチファクトのほとんどは、一般的に散乱放射線の影響であり、正確な測定を妨げる擬似の3Dサーフェスの原因となってしまいます。
ZEISS scatterControlについてのよくあるご質問
ZEISS scatterControlはどんなワークに最も効果を発揮しますか？
ZEISS scatterControlが最も効果を発揮する製品は、アルミニウムやマグネシウム製品、鋳造製品、パワーエレクトロニクス、高密度の金属3Dプリント製品など、さまざまです。
ZEISS scatterControlでスキャンを設定するにはどうすればよいですか？
ZEISS scatterControlは、ワンクリックで使用可能です。ソフトウェアとハードウェアの衝突防止機能がすでに組み込まれているため、特段手順を追加することなくスキャン処理を開始できます。
すでにZEISS METROTOM 1500 G3を持っています。ZEISSのscatterControlを後付けすることは可能ですか？
はい、ZEISS scatterControlはZEISS METROTOM 1500 G3用の後付けすることが可能です。ただし、scatterControlモジュールでCTを強化するためには、METROTOM OSなどのアップデートが必要な場合があります。
scatterControl関連のイベント
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【日時】2023年10月5日（木） 14:00～15:00
【場所】オンライン開催
【詳細】
ZEISSの計測用X線CT装置METROTOM 1500 225kV G3専用の追加オプションとして、scatterControl（スキャターコントロール）が登場いたしました。
この独自機構により、鋳造品やマルチマテリアル製品において発生するノイズを極限まで低減することで、これまでの技術では考えられなかった画像品質をお届けすることが可能となりました。こちらのオプションを適用することでどのような品質改善効果が得られるか、豊富なイメージ画像と共に分かりやすい解説を予定しております。
シリンダーヘッドやシリンダーブロック、バッテリーケースや鉄が埋め込まれた金属積層造形製品、基板やネジなどの金属を多く含むアセンブリ品のスキャンでお困りの方は、ぜひご参加いただきますようお願い申し上げます。
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【日時】2023年10月18日（水）～21日（土） 10:00～17:00
【場所】ポートメッセなごや
【詳細】
ZEISS scatterControlをご紹介いたします。
実際に弊社営業・技術スタッフと本製品についてお話しいただける機会となります。
是非ご来場ください。
【公式サイト】https://mect-japan.com/2023/
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