光学顕微鏡と電子顕微鏡を組み合わせた相関顕微鏡システムにより、キラー粒子の化学組成を分析して、残留コンタミ発生の根本原因を特定します。
工業製品製造企業においては、ますます高まる品質基準を確保するための高度な技術的清浄度プログラムが、製造プロセス全体で重大な残留コンタミを根絶するために必要とされています。 ZEISS Technical Cleanliness Solutionsは、残留コンタミの根本原因を特定し、製造工程に迅速にフィードバックすることが可能となります。
残留コンタミ清浄度検査
品質保証
残留コンタミは、製品の効率、機能、寿命に多大な影響を及ぼします。調査によると、油圧および油で満たされた機械の故障の主な原因は残留コンタミにあるとされています。残留コンタミ解析は、メンテナンスコストを最小限に抑え、機械の寿命を改善するのことに役立ちます。加工品に求める品質を確保するためには、残留コンタミ解析データを必要としています。
ZEISS Technical Cleanliness Solutionsは、汚染の根本原因を特定し、正しい決定をより迅速に行えるようにします。」
使用目的に適合した製品作り
製造業のニーズに適合した製品
ZEISSTechnicalCleanliness Solutionsは、大手自動車製造企と共同で開発されました。使いやすく確実な残留コンタミの解析および分類システムを特に必要としていました。
ニーズに基づき、簡単に使用でき、製造環境や産業環境内の複数のサイトに展開でき、顕微鏡の専門家ではないオペレーターでも使用できるシステムを開発しました。
ZEISS残留コンタミ解析システムは、次の代表的な工業規格に準拠しています。
製造物清浄度検査 |
オイル清浄度検査 |
医療関連デバイスの |
VDA 19.1 |
ISO 4406 |
VDI 2083 |
ISO 16232 |
ISO 4007 |
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DIN 51455 |
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SAE AS 4059 |
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Go beyond standards
残留コンタミの根本原因について情報に基づいた決定を行う
ZEISSソリューションポートフォリオは、粒子を見つけるだけでなく、汚染や摩耗の原因によって粒子を分類するのに役立つ非常に効率的なワークフローで、粒子の検出と分類を組み合わせることを可能にします。
ZEISS相関顕微鏡システムは、光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方のデータを1つのワークフローに組み合わせて、より包括的な情報を取得できます。

残留コンタミの潜在的なリスクを推定する
光学顕微鏡システム
粒子を量、サイズ分布、形態別に分類し、金属と非金属の粒子および繊維を2μmまで区別します。工業規格に従って清浄度レポートを作成します。
高度な分析ワークフローを確立する
相関顕微鏡残留コンタミ解析システム
相関顕微鏡自動粒子解析(CAPA)を使用して、製造工程における残留コンタミを特定し、キラー粒子を特定します。CAPAは、光学顕微鏡と電子顕微鏡の両方からのデータを1つのワークフローに結合します。

Read how ZEISS integrates data from HYDAC devices into reporting for faster root cause identification and decision making.
技術的な清浄度については、専門家にご連絡ください
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