2026年01月21日(水) 日本時間 1:00に、 バイオテクノロジー、製薬、医療技術業界の方々向けのウェビナー（ロンドンより）を開催します。

本ウェビナーでは、新規機器の導入から既存機器のコンプライアンス強化まで、顕微鏡検査を規制プロセスにシームレスに組み込む方法を実演、規制対象となる画像処理環境において、データの完全性を強化しコンプライアンスを効率化するため、GxP対応の顕微鏡ワークフローを設計、適格性評価、管理する方法を学びます。

ウェビナー内容 / 次の3つの側面について掘り下げます

・イメージングラボにおける主要なGxP原則と、コンプライアンスに準拠した顕微鏡操作の実務要件
・ZEISS ZENコアソフトウェアを用いた再現性のあるGxP準拠イメージングワークフロー構築戦略
・GxP対応顕微鏡導入の実例と、自社ラボで適用可能なアプローチ

本ウェビナーは、BiteSizeBIO上で開催するものであり言語は英語となります。

1月21日（水）13:00に、 半導体向け全3回シリーズウェビナーの第3回（最終回）を開催します。諸事情により本来予定しておりました12月9日ではなく、1月21日になりましたことをお詫び申し上げます。

第3回目である最終回では、AFM-in-SEMシステムを紹介します。このハイブリッドツールは、走査型電子顕微鏡（SEM）内で高分解能の表面形状および導電性測定を可能にします。本ウェビナーでは、SEM内部の微小空間における精密電気計測に対するツール有用性について学びます。さらに、局所的なミリング中に生じる電気的ブレークダウンを高精度に検出する能力を実演します。

ウェビナー内容/次の4つの側面について掘り下げます

・表面形状測定　―AFMにおける基本的な測定
・導電性AFM測定と、本システムがSRAM解析にもたらす利点（裏面へのACバイアス印加と線形フィルタの併用）
・AFM探針を用いた電子ビーム吸収電流（EBAC）測定
・AFM探針をスカルペル（メス）のように用いて酸化した表面をクリーニングしたりトモグラフィ測定を実施
（ミリングと導電性AFMデータ収集を同時に実行）

本ウェビナーは、Semiconductor Digestと共同で開催するものであり言語は英語となります。

第1回は10月15日（水）「電位コントラスト法（PVC法）」、第2回は11月11日（火）に「ナノプロービング」をテーマに開催済です。なお、本シリーズは、終了後にウェビナー録画（オンデマンド）を予定しております。

12月1日(月)から4日（木）に、金沢市文化ホールにて「THE 21st ASIAN WORKSHOP ON POLYMER PROCESSING (AWPP2025)」が開催されます。AWPPは、2001年のバンコクから四半世紀のあいだ開催され、2025年はZEISS顕微鏡で卓越した研究をされている金沢大学の理工研究域フロンティア工学系教授 瀧先生が組織されます。

12月2日(火)から3日（水）に、国立大学法人熊本大学にて「The 10th International Workshop on X-Ray Tomography of Geomaterials and Environmental Materials (IWX2025)」が開催されます。IWX2025では、初日16:50–17:25のSpecial Industry Presentationにおいて、Carl Zeiss Microscopy Limited, Cambridge, UK の Richard Taylor が「Advances in X-ray Microscopy for Natural Resources and Materials。Characterization」をテーマに講演いたします。

11月12日（水）18:00に、ZEISSのTEM試料作製自動化ワークフローを学べるウェビナーを開催します。

ウェビナー内容/
・ZEN Core for TEM Prep Automationで、チャンキングからリフトアウト、薄片化までの全工程を自動化し時間を節約、または手動でプロセスも実行可能であることのご紹介
・高い柔軟性を持つワークフローを活用した複数試料や多様な材料の調製
・様々な試料タイプにおけるマルチサイトTEMラメラ調製による効率化の実現性

本ウェビナーの言語は英語となります。

11月11日（火）13:00に、 全3回シリーズの半導体向けウェビナーの第2回を開催します。
第2回は、先進的な半導体故障解析のためのナノプロービング技術に焦点を当て、複雑なシステム内の微細な欠陥を発見する手法を解説します。

ウェビナー内容/
・EBAC、EBIC、EBIRCHなどの主要なナノプロービング技術
・半導体故障解析における欠陥箇所特定の重要性
・抵抗やしきい値電圧などの電気測定に不可欠な装置
・10シグナルの活用事例と複雑なシステムにおける短絡検出の課題
・ナノプロービングによるデバイス健全性測定と欠陥箇所特定の手法

本ウェビナーは、Semiconductor Digestと共同で開催するものであり言語は英語となります。

第1回は、10月15日（水）「電位コントラスト法（PVC法）」をテーマに開催済、第3回は、12月9日（火）に「AFM」をテーマに予定しております。開催詳細が決まり次第掲載いたします。なお、本シリーズは、終了後にウェビナー録画（オンデマンド）を予定しております。

10月16日（木）に、JFEテクノリサーチ株式会社とオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社と合同でウェビナーを開催いたします。本ウェビナーは、進化を続ける走査電子顕微鏡（SEM）および、最適化された高感度な新型検出器（EDX）に焦点をあてた６つの講演で構成され、事前登録により無料でご参加いただけます。

対象は、材料開発・品質管理にSEM-EDXを活用されている技術者・研究者の方となります。

10月15日（水）12:00に、 全3回シリーズの半導体向けウェビナーの第1回を開催します。
第1回は、Gemini SEMを用いた電位コントラスト法（PVC法）メカニズムや分析結果を改善する下記項目について実践的知見の観点からご紹介いたします。

・半導体故障解析において故障個所特定が不可欠な理由
・3つのPVCメカニズム（容量、接地、p/n接合の固有電位）の解説
・異なるエネルギー分布の選択がPVC精度に与える影響
・PVC技術と分析結果を最適化する実践的ノウハウ

本ウェビナーは、Semiconductor Digestと共同で開催するものであり言語は英語となります。

第2回は、11月11日（火）12:00より「ナノプロービング」をテーマに、第3回は、12月9日（火）に「AFM」をテーマに予定しております。開催詳細が決まり次第掲載いたします。

10月9日（木）0:00に、地球科学、岩石・鉱物分析研究者向けウェビナーを開催します。
本ウェビナーでは、深層学習をテーマに下記項目についてご紹介いたします。

・高品質な定量データセットの構築
・深層学習ニューラルネットワークを活用した高速かつ一貫性のある鉱物分類
・プラットフォーム横断データ統合

本ウェビナーの言語は英語となります。

10月1日(水)にTKP新大阪カンファレンスセンターにて開催される「Gatan・EDAX セミナー 2025」にて、ZEISS電子顕微鏡で卓越した研究をされている横浜国立大学の梅澤先生がご講演されます。

梅澤先生は、16:15からの特別講演として「EBSD法を用いた変形組織とき裂解析」についてご講演されます。

これからGeminiSEM、Crossbeamを使用する予定の方、使用してから1年未満の方を対象とした入門コースを9月26日(金)にカールツァイス株式会社 東京本社にて開催いたします。SmartSEMの操作方法、撮影したSEM像の解釈、撮影条件の基礎について、初心者でも分かりやすいように座学とSEM実習を行います。

9月11日（木）にウインクあいちにて開催される「第68回日本神経化学会大会」において、ZEISS共催ランチョンセミナーを予定しております。

９月３日（水）～５日（金）に幕張メッセ国際展示場にて開催される「JASIS（分析機器・科学機器総合展 ）」に出展いたします。本展示会においては、ブース出展のほか、２つのセミナーを実施いたします。詳細は特設ページをご覧ください。