ZEISS Smartproof 5 は、表面解析を素早く、精密に、再現性良く実行するワイドフィールド共焦点顕微鏡システムです。
QA/QC部門、製造現場、R&Dラボで日々発生する、粗さやトポグラフィー解析などの幅広い表面性状の評価に対応します。高性能の共焦点システムを制御する強力なソフトウェア ZEISS Efficient Navigation (ZEN) が、ストレスなく高い生産性で結果を導きます。
信頼できる出力
ガイド付きワークフロー
一体となった堅牢なデザイン
最高の ZEISS 光学系
新しい ZEISS の対物レンズである、Cクラスのエピプランアポクロマートは、ワイドフィールド共焦点システム用に設計されています。
これらの高開口数レンズは、可視域で最高のパフォーマンスを発揮するだけでなく、ワイドフィールド共焦点画像を取得する405nmに対しても最適化されています。Smartproof 5 のワイドフィールド共焦点テクノロジーは、従来のポイントスキャン方式の共焦点顕微鏡に比べ、高いスループットを実現します。これは Smartproof 5 の検出モジュールに搭載されている相関アパーチャスピニングディスクテクノロジーが可能にしています。
また、表面解析における従来の共焦点顕微鏡の利点は保っています。高さ方向の優れた分解能と水平方向の高分解能を両立しています。
ガイド付きワークフローで正確なナビゲーション
Smartproof 5 での試料の向き調整は非常に簡単です。 内蔵された ZEN のグラフィカルユーザインタフェースがマクロからミクロまでのワークフローを一貫してサポートします。
全体像から測定箇所を簡単に選ぶことができます。取得したデータは自動的に ConfoMap ソフトウェアに転送され、試料の3D特性を処理、解析することができます。ワークフローは保存する事ができ、同様の微細な3D解析を繰返し行えます。
信頼できる結果
Smartproof 5 の部品は電動化されており、ソフトウェアが各部の状態を常に確認しています。そのため、繰返し取得するワークフローの設定も簡単です。 強力な ConfoMap ソフトウェアを使うことで、試料の幾何学的なパラメータの解析も、2D(プロファイル)と3D(範囲)での粗さ解析も可能です。 それらの測定パラメータはISOに準拠しています。